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6117件の論文が見つかりました。

キーワード: 米国電気電子学会, "Institute of Electrical and Electronics Engineers", IEEE

• 2024, Zheng M, Luo Z, Li Z
  [宇宙磁場測定用誘導型磁気センサーの設計] [tech./dosim.]
  2024 4th International Conference on Electronics, Circuits and Information Engineering (ECIE), Hangzhou, China. IEEE: pp. 91-97; ISBN 9798350388329
• 2024, Liu Y, Xiao X, Kong X, Pang Y
  [脳の超低強度磁気共鳴画像システムの性能向上のためのコンフォーマルコンパクトメタサーフェス] [tech./dosim.]
  2024 Photonics & Electromagnetics Research Symposium (PIERS), Chengdu, China. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350375916
• 2024, Chen B, Gao YC, Li XJ, Dong YW, Mao S, Yi HL, Xiong M
  [ヒトの健康に対する自動車の電磁放射の影響の評価方法の改善とその防護] [tech./dosim.]
  2024 Photonics & Electromagnetics Research Symposium (PIERS), Chengdu, China. IEEE: pp. 1-9; ISBN 9798350375916
• 2024, Lee W, Ryu K, Li Z, Oscanoa J, Wu Y, Robb F, Vasanawala S, Pauly J, Scott G
  MRI retrospective respiratory gating and cardiac sensing by CW Doppler radar: A feasibility study [tech./dosim.]
  IEEE Trans Biomed Eng [in press]
• 2024, Karpowicz J, Miclaus S
  [狭帯域データロガーを用いたモバイル無線通信放射による電磁界ばく露の時間変動モニタリング] [tech./dosim.]
  2024 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Rome, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350370546
• 2024, Campi T, Cruciani S, Maradei F, Feliziani M
  [両面LCC補償によるダイナミックワイヤレス電力伝送システムにおける磁界の低減] [tech./dosim.]
  IEEE Access 12: 109750-109758
• 2024, Wang CH, Shi Y, Yang DN, Chen WY, Chen WT
  [MIMO-WPTにおけるIoTデバイス選択とヘルスアウェアビームフォーミング設計] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Mob Comput 23 (9): 8822-8838
• 2024, Long T, Jiang C, Yuan Q, Sang W, Luo X, Li L
  [医療インプラントのスケール化伝達関数測定のための並進励起戦略] [dev./impl.]
  IEEE Trans Instrum Meas 73: 6007910
• 2024, Di Capua G, Maffucci A, Capriglione D, Di Mambro G, Femia N, Oliva N, De Guglielmo L
  [ワイヤレス電力伝送システムへの影響解析のための相互インダクタンスモデリング] [tech./dosim.]
  2024 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Rome, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350370546
• 2024, Gryz K, Karpowicz J, Zradziński P
  [電磁界ばく露の（準）自律的評価におけるデータロガーのバンド外感度から生じる課題と機会] [tech./dosim.]
  2024 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Rome, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350370546