体調不良を高周波（RF）電磁界ばく露が原因だと考える人々がいる。この状態は、高周波を原因と考える本態性環境不耐症（IEI-RF）または電磁過敏症（EHS）としても知られており、影響を受ける人々にとって障害となり得る。この研究は、IEI-RFの発症、維持、または破棄に関連する要因を10年超にわたる時間経過で評価した。また、RF電磁界ばく露を原因と考える体調不良を報告するという条件なしに、的を絞った質問を用いてEHS発症の予測因子をフォローアップで評価した。オランダ労働環境衛生コホート研究研究AMIGOからの参加者（n = 892、ベースラインでの平均年齢50歳、女性52%）が、2011/2012年（T0）、2013年（T1）、および2021年（T4）にアンケートに回答し、認知上のRF電磁界ばく露およびリスク、非特異的症状、睡眠障害、IEI-RF、およびEHSに関する情報を収集した。個々人がどのようにIEI-RFの状態間（はい／いいえ）を遷移するかを示すため、多状態マルコフモデルを適合させた。その結果、各々の時点で、約1%の参加者がRF電磁界ばく露が原因だと考える体調不良を報告した。この割合は安定的なままであったが、そのような体調不良を報告した個々人は時間経過とともに変化した：T0の時点で体調不良を報告した9人のうち、T1およびT4の両方でIEI-RFを報告したのは僅か1人で、T4では新たに2人が体調不良を報告した。全体として、10年超の時間経過において、参加者が「はい」から「いいえ」に遷移する確率は95%、「いいえ」から「はい」に遷移する確率は1%であった。認知上のRF電磁界ばく露およびリスクが高い参加者は一般的に、状態間をより頻繁に移動する傾向があった。この対照集団ではIEI-RFの罹患率は低く、時間経過に伴う大きな変化はなかったが、偶然の側面が強かった：10年超にわたり、RF電磁界ばく露が症状の原因だとは考えない確率が高かった。IEI-RFは従来想定されていたよりも過渡的な状態であると考えられる、と著者らは結論付けている。
このウェブサイトはクッキー（Cookies）を使って、最善のブラウジングエクスペリエンスを提供しています。あなたがこのウェブサイトを継続して使用することで、私たちがクッキーを使用することを許可することになります。
