この研究は、検査の数日前にレーダー装置の修理に携わっていたレーダーステーション作業員群において、構造的染色体異常の分析を行った。その結果、染色体切断、無動原体断片、環染色体および染色分体交換を伴う二動原体染色体および多極染色体の数の有意な増加の観点から行われる通常の突然変異原性のモニタリングで記録される値より大きな低下が示された;多数回繰り返された突然変異原性試験で、全ての被験者において、染色体異常の総数が時間の関数として低下することが示された;30週間のフォローアップ調査中に、染色体異常の総数の減少が観察された、と報告している。
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The study presents cytogenetic examinations carried out in subjects accidentally exposed to microwave radiation. Structural changes were followed up over the course of 30 weeks after the "accident" to demonstrate the persistence of such changes after acute exposure.
周波数 | 1.25–1.35 GHz |
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タイプ |
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ばく露時間 | repeated daily exposure, 12 h/day every other day, for 12-20 (16 ± 2.4) years |
Modulation type | pulsed |
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ばく露の発生源/構造 |
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ばく露装置の詳細 | occupational exposure at different workplaces |
Results of chromosome aberration analysis of subjects before the accident showed only acentric fragments, chromatid and chromosome breaks which did not exceed 0.5-2.5%. All subjects showed a significantly increased number of chromosome aberrations. The total number of aberrations for the "accidentally" exposed group ranges from 3% to 33%, with the existence of a great number of unstable aberrations such as dicentrics and ring chromosomes. The results show a decrease in the total of chromosomal aberrations 30 days after the first sampling (dicentric and ring chromosomes are still present).
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