この研究は、902 MHz携帯電話から放射される電磁界(EMF)がヒトの短期記憶に及ぼす影響をボランティア実験で調べた。著者らの先行研究を方法論的に改善した再現研究である。改善点は、多施設試験および二重ブラインド化した実験デザインにある。2つの独立した研究施設での合計64人の被験者(男女それぞれ32人)は、異なる記憶負荷(0〜3項目)を提示する短期記憶課題(nバック課題)を2回遂行した(1回はEMFばく露下、もう1回は擬似ばく露下)。反応時間(RT)および反応の正確さを記録した。ばく露・擬似ばく露の実施順序、および記憶負荷条件の遂行順序は、被験者および性別でカウンターバランスされた。その結果、2つの研究施設での課題遂行成績に有意な差はなかった;先行研究の結果は再現されなかった;すなわち、EMFばく露は、被験者の課題への応答におけるRTや正確さに影響を与えなかった;先行研究の結果が再現されなかった理由については、実際にEMFにそのような影響がないためか、使用した課題の感度閾値の大きさでは影響がないためであると考えられる、と報告している。
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To study the effects of an electromagnetic field as emitted by a 902 MHz mobile phone on human short term memory.
The study was a replication with methodological improvements (multi-centre testing and a double-blind study design) to a previous study (publication 4728). A total of 64 subjects in two independent laboratories performed a short term memory task.
周波数 | 902 MHz |
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タイプ |
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ばく露時間 | continuous for 65 min |
Modulation type | pulsed |
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Pulse width | 577 µs |
Repetition frequency | 217 Hz |
Additional information |
Discontinuous transmission mode was not activated. |
ばく露の発生源/構造 |
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Distance between exposed object and exposure source | 0.0337 m |
ばく露装置の詳細 | The mobile phone was mounted on the left side of the subject's head in the normal position of use with an adjustable rubber head cap. The antenna was located over the left posterior temporal lobe. The distance from the surface of the skull was measured in 12 randomly selected subjects, averaging 33.7 mm (SD 2.57 mm). |
Additional information | Each subject performed the tasks twice, once under the exposure to a mobile phone and once under a sham exposure. These sessions were separated by 24 ± 1 h. Both the subjects and the experimenters were unaware of the exposure condition (double blind). |
No statistically significant differences in performance between the two laboratories were found. The authors could not replicate the previous results: the electromagnetic field had no effect on reaction times or on the accuracy of the subjects' answers. The inability to replicate previous results could have been caused by lack of actual electromagnetic field effects or the magnitude of effects being at the sensitivity threshold of the test used.
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