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キーワード: t-Test, "Student's t-test", スチューデントt-検定, t-検定

• 2015, Ishida T, Nitta S, Xiao F, Kami Y, Fujiwara O
  [ウェアラブルデバイスを対象とする静電放電イミュニティ試験の実験的研究] [tech./dosim.]
  2015 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC), Dresden, Germany. IEEE: pp. 839-842; ISBN 978-1-4799-6615-8
• 2015, Armstrong R, Dawson L, Rowell AJ, Marshman CA, Ruddle AR
  [完全電気自動車が低周波電磁環境へ及ぼす影響] [tech./dosim.]
  2015 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC), Dresden, Germany. IEEE: pp. 662-667; ISBN 978-1-4799-6615-8
• 2015, Havranek S, Neuzil P, Linhart A
  [電気的筋活動不能化装置と重度徐脈のリスク] [med./bio.]
  Am J Forensic Med Pathol 36 (2): 94-98
• 2015, Sdrulla AD, Xu Q, He SQ, Tiwari V, Yang F, Zhang C, Shu B, Shechter R, Raja SN, Wang Y, Dong X, Guan Y
  [低閾値求心性神経線維電気刺激は脊髄後角第Ⅱ層ニューロンに高閾値求心性入力に対する長期シナプス抑制を誘導する] [med./bio.]
  Pain 156 (6): 1008-1017
• 2015, Fernandez-Rodriguez CE, Almeida de Salles AA, Davis DL
  [脳での携帯電話放射吸収のドシメトリ・シミュレーション：空間ピークSARと年齢との関係] [tech./dosim.]
  IEEE Access 3: 2425-2430
• 2015, Echternacht D, Stagge H, Priebe J, Wiernes P, Jagielski K, Petri AK, Drießen S, Trevisan B, Digmayer C, Oberst C, Keysselitz B, Kremer M, Sieber S, Krapp S, Jakobs EV, Frenz M, Lohrberg F, Wachten K, Moser A
  [DC配電グリッドのモデル化、計画、設計および評価] [info]
  International ETG Congress 2015; Die Energiewende - Blueprints for the new energy age, Bonn, Germany. VDE: pp. 1-7; ISBN 978-3-8007-4121-2
• 2015, Pashazadeh AM, Dehkordi FJ, Tanha K, Assadi M
  [SPECTスキャナの性能に対する携帯電話放射電磁界の影響：定量的研究] [dev./impl.]
  Clin Nucl Med 40 (7): 545-547
• 2015, Keller J, Neuzil P, Vymazal J, Janotka M, Brada J, Zacek R, Vopalka R, Weichet J, Reddy VY
  [皮下植込み型心臓除細動器を装着した患者での磁気共鳴イメージング] [dev./impl.]
  Europace 17 (5): 761-766
• 2015, Gold MR, Kanal E, Schwitter J, Sommer T, Yoon H, Ellingson M, Landborg L, Bratten T
  [磁気共鳴イメージング使用を目的として開発された植込み型心臓除細動器の前臨床評価] [dev./impl.]
  Heart Rhythm 12 (3): 631-638
• 2015, Shimofusa R, Okano Y
  [300 MHz以上での比吸収率の広帯域測定システム] [tech./dosim.]
  2015 IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology (RFIT), Sendai, Japan. IEEE: pp. 88-90; ISBN 978-1-4673-7794-2