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キーワード: t-Test, "Student's t-test", スチューデントt-検定, t-検定

• 2021, Watanalaorsomboon S, Punpai S, Tanechpongtamb W, Tarateeraseth V
  [ヒト細胞に対するWi-Fi6信号の影響を研究するためのCO2インキュベーターの設計と実装] [tech./dosim.]
  2021 18th International Conference on Electrical Engineering/Electronics, Computer, Telecommunications and Information Technology (ECTI-CON), Chiang Mai, Thailand. IEEE: pp. 654-657; ISBN 978-1-6654-4738-6
• 2021, Wang X, Guo H, Zhou C, Bai J
  [ヒト組織の誘電特性の測定用の高解像度プローブデザイン] [tech./dosim.]
  Biomed Eng Online 20: 86
• 2021, Leodori G, Fabbrini A, De Bartolo MI, Costanzo M, Asci F, Palma V, Belvisi D, Conte A, Berardelli A
  [間欠的シータバースト刺激によって誘発される可塑性の変動性の根底にある皮質メカニズム：TMS-EEG［経頭蓋磁気刺激‐脳電図］研究] [med. app.]
  Clin Neurophysiol 132 (10): 2519-2531
• 2021, Pacchierotti F, Ardoino L, Benassi B, Consales C, Cordelli E, Eleuteri P, Marino C, Sciortino M, Brinkworth MH, Chen G, McNamee JP, Wood AW, Hooijmans CR, de Vries RBM
  [雄性の生殖能力および妊娠および出生アウトカムに対する高周波（RF）電磁界ばく露の影響：イン・ビトロでばく露したヒト以外の哺乳類およびヒトの精子での実験研究の系統的レビューのためのプロトコル] [basics]
  Environ Int 157: 106806
• 2021, Rubia K, Westwood S, Aggensteiner PM, Brandeis D
  [注意欠陥・多動性障害（ADHD）に対する神経治療：レビュー] [review]
  Cells 10 (8): 2156
• 2021, Yao A, Murbach M, Goren T, Zastrow E, Kainz W, Kuster N
  [MR検査中の患者に誘導される高周波：リスク評価のための洞察] [tech./dosim.]
  Phys Med Biol 66 (18)
• 2021, Brisson V, Tremblay P
  [経頭蓋磁気刺激を使用した若年および高齢者の騒音下での音声知覚の改善] [med. app.]
  Brain Lang 222: 105009
• 2021, Cui J, Zhu K, Tang C, Zhang Z, Zhu Q, Chen A
  [110 kV共有鉄塔での安全な運用と保守の技術的パラメータの研究] [tech./dosim.]
  2021 International Conference on Electrical Materials and Power Equipment (ICEMPE), Chongqing, China. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-6654-3069-2
• 2021, Omi S, Sasaki K, Wake K
  [準ミリ波およびミリ波帯での適合性評価のための逆波源法による入射電力密度評価の性能分析] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Electromagn Compat 63 (5): 1649-1657
• 2021, Mumin ARO, Abdullah Q, Uğurenver A, Mahmud YA, Hussein AA, Salah AI, Ahmed AY
  [WBANアプリケーションでのSAR低減のためのコンパクトな人工磁気導体（AMC）の設計] [tech./dosim.]
  2021 1st International Conference on Emerging Smart Technologies and Applications (eSmarTA), Sana'a, Yemen. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-6654-1153-0