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640件の論文が見つかりました。

キーワード: heterogeneous, heterogen, inhomogen, inhomogeneous, 不均質, 異質の

• 2015, de Domenico A, Diez L, Aguero R, Ktenas D, Savin V
  [異種セルラーネットワークにおけるEMF-アウェア型の接続セル選択方式] [tech./dosim.]
  IEEE Commun Lett 19 (2): 271-274
• 2015, Kiss B, Laszlo JF, Szalai A, Porszasz R
  [マウスの耳の浮腫に対する局所的で非一様な静磁界ばく露の影響の分析：二重ブラインド研究] [med./bio.]
  PLoS One 10 (2): e0118089
• 2015, Moore SM, McIntosh RL, Iskra S, Wood AW
  [無線周波電磁界にばく露した人体の温度上昇に対する環境悪条件や衣服の影響のモデル化] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Biomed Eng 62 (2): 627-637
• 2015, Marquez J, van Vliet P, McElduff P, Lagopoulos J, Parsons M
  [経頭蓋直流電流刺激（tDCS）：脳卒中リハビリテーションにメリットがあるか？：体系的レビュー] [med. app.]
  Int J Stroke 10 (3): 306-316
• 2014, Laissaoui AM, Nekhoul B, Poljak D, Kerroum K, Drissi KE
  Current density and internal electric field in a model of the human body exposed to ELF electric and magnetic fields [tech./dosim.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Gothenburg, Sweden. IEEE: pp. 974-979; ISBN 978-1-4799-3226-9
• 2014, Grimaldi G, Oulad Ben Taib N, Manto M, Bodranghien F
  Marked reduction of cerebellar deficits in upper limbs following transcranial cerebello-cerebral DC stimulation: tremor reduction and re-programming of the timing of antagonist commands [med. app.]
  Front Syst Neurosci 8: 9
• 2014, RamRakhyani AK, Kagan ZB, Khan F, Warren DJ, Normann RA, Lazzi G
  [複数神経束坐骨神経の磁気刺激のためのμmの解像度の不均一組織モデル] [tech./dosim.]
  2014 36th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, Chicago, IL, USA. IEEE: pp. 5679-5682; ISBN 978-1-4244-7929-0
• 2014, Dougherty ET, Turner JC, Vogel F
  [経頭蓋直流電気刺激のニューロン電気力学とのマルチスケール結合：経頭蓋電界の神経脱分極への影響のモデル化] [med. app.]
  Comput Math Methods Med: 360179
• 2014, Haridim M, Levin B, Revich S, Chulski S, Sauleau R, Zemach R
  [900 MHzでの不均一な頭部モデルのエネルギー吸収分布] [tech./dosim.]
  IEEE Electromagn Compat Mag 3 (4): 43-48
• 2014, Nikolovski M, Munteanu I, Cassara AM, Weiland T
  [携帯電話ばく露によるSAR分布に対する指輪とイヤリングの影響] [tech./dosim.]
  2014 Loughborough Antennas and Propagation Conference (LAPC), Loughborough, UK. IEEE: pp. 504-508; ISBN 978-1-4799-3662-5