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キーワード: EMF, "Elektromagnetisches Feld", "electromagnetic field", 電磁界

• 2019, Gerasimov AA, Meshchaninov VN, Shcherbakov DL
  [脊髄痛症候群に対する間質性電気刺激での病原性治療の機序] [foreign-language]
  Vopr Kurortol Fizioter Lech Fiz Kult 96 (4): 12-18
• 2019, Filippi M, Dasen B, Guerrero J, Garello F, Isu G, Born G, Ehrbar M, Martin I, Scherberich A
  [磁気ナノコンポジットハイドロゲル及び静磁界は脂肪由来細胞の骨芽細胞及び血管新生プロファイルを刺激する] [med./bio.]
  Biomaterials 223: 119468
• 2019, Chiaramello E, Parazzini M, Fiocchi S, Bonato M, Ravazzani P, Wiart J
  [スパース低ランクテンソル近似で推定した屋内環境でのフェムトセルへの子どものばく露] [tech./dosim.]
  Ann Telecommun 74 (1-2): 113–121
• 2019, Zhang Y, Zheng N, Ma Y, Xie T, Feng X
  [形状記憶ポリマーを用いた末梢神経刺激用の生体模倣3D神経電極] [tech./dosim.]
  2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), San Francisco, CA, USA. IEEE: 29.3.1-29.3.4; ISBN 978-1-7281-1988-5
• 2019, Frigura-Iliasa M, Baloi FI, Olariu AF, Petrenci RC
  [高圧変電所内の電界のデジタルマッピング] [tech./dosim.]
  2019 International Conference on Information and Digital Technologies (IDT), Zilina, Slovakia. IEEE: pp. 149-152; ISBN 978-1-7281-1402-6
• 2019, Bender M, Romei V, Sauseng P
  [右頭頂皮質の徐波シータtACS［経頭蓋交流刺激］は反対側の視覚作業記憶容量を改善する] [med./bio.]
  Brain Topogr 32 (3): 477-481
• 2019, Gholami D, Ghaffari SM, Riazi G, Fathi R, Benson J, Shahverdi A, Sharafi M
  [ヒト精子凍結保存における電磁界は凍結媒体中の水分子の物理化学的修飾を通じて解凍精子の妊孕能力を改善する] [med./bio.]
  PLoS One 14 (9): e0221976
• 2019, Bernieri A, Betta G, Cerro G, Miele G, Capriglione D
  [UMTS及びLTE基地局へのヒトの24時間の電磁界ばく露評価についての外挿技法の実験的比較] [tech./dosim.]
  2019 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Catania, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-7281-1274-9
• 2019, Kainz A, Steiner H, Hortschitz W, Schalko J, Jachimowicz A, Keplinger F
  [改良型のリファレンスフリー振動抑制光学的MEMS電界強度センサ] [tech./dosim.]
  2019 20th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems & Eurosensors XXXIII (TRANSDUCERS & EUROSENSORS XXXIII), Berlin, Germany. IEEE: pp. 2114-2117; ISBN 978-1-5386-8105-3
• 2019, Migliore MD
  [5Gシステムにおけるばく露限度の検証についての注記] [tech./dosim.]
  2019 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Catania, Italy. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-1-7281-1274-9