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2986件の論文が見つかりました。

キーワード: child, Kind, 小児

• 2022, Li J, Lu M
  [地下鉄のプラットフォーム上の異なる位置での乗客の電磁ばく露の比較] [tech./dosim.]
  EMIE 2022; The 2nd International Conference on Electronic Materials and Information Engineering, Hangzhou, China. VDE: pp. 1-6; ISBN 978-3-8007-5961-3
• 2022, Cresci A, Durif CMF, Larsen T, Bjelland R, Skiftesvik AB, Browman HI
  [海底高圧直流ケーブルによって生じる磁界はコダラ（Melanogrammus aeglefinus）の稚魚の遊泳活動を低下させる] [med./bio.]
  PNAS Nexus 1 (4): pgac175
• 2022, Amicucci GL, Settino MT
  [イタリアにおける電気および非電気工事活動中の傷害または死亡を伴う電気事故] [elec. inj.]
  2022 International Conference on Electrical, Computer, Communications and Mechatronics Engineering (ICECCME), Maldives, Maldives. IEEE: pp. 1-7; ISBN 978-1-6654-7096-4
• 2022, McCredden JE, Cook N, Weller S, Leach V
  [ワイヤレス技術はヘルスケアにおける新たな理解とアプローチを必要とする環境ストレス要因の一つである] [review]
  Front Public Health 10: 986315
• 2022, Shaikh SA, Telang PA, Arora S
  [電撃熱傷に苦しむ患者の物理療法介入：症例報告] [elec. inj.]
  Cureus 14 (11): e31176
• 2022, Rock M, Drebenstedt C
  [集中要素を有するネットワークでモデル化したヒトに対する雷のインパクト] [tech./dosim.]
  2022 36th International Conference on Lightning Protection (ICLP), Cape Town, South Africa. IEEE: pp. 614-619; ISBN 978-1-6654-9025-2
• 2022, Mulatu D, Zewdie A, Zemede B, Terefe B, Liyew B
  [アディスアベバ火傷・救急・外傷病院への外来患者における火傷の結果および関連する要因：2年間の病院ベースの横断研究] [elec. inj.]
  BMC Emerg Med 22: 199
• 2022, Djuric N, Kljajic D, Otasevic V, Djuric S, Yin L
  [セルビアのEMF RATELシステムによる高感度ゾーンでの電磁界ばく露観測] [tech./dosim.]
  2022 4th International Conference on Emerging Trends in Electrical, Electronic and Communications Engineering (ELECOM), Mauritius. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-6698-1
• 2022, Baaken D, Erdmann F, Olsson A, Onyije FM, Schüz J, Wollschläger D
  [小児B細胞ALL患者における環境要因、遺伝的要因と白血病との関連を調査するための学際的研究の実施可能性研究‐プロジェクト3620S92412] [info]
  Federal Office for Radiation Protection (BfS), Ressortforschungsberichte zum Strahlenschutz, BfS-RESFOR-206/22: 1-73
• 2022, Pavel I, David V, Roman MG, Bordas AM
  [病院環境の異なるエリアでの低周波磁界調査] [tech./dosim.]
  2022 International Conference and Exposition on Electrical And Power Engineering (EPE), Iasi, Romania. IEEE: pp. 484-488; ISBN 978-1-6654-8995-9