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キーワード: Zelle, cell, 細胞

• 2016, Lin JC
  [大うつ病に対する侵襲性が最小限の経頭蓋磁気刺激（TMS）治療] [comment]
  Radio Science Bulletin 89 (2): 57 - 59
• 2016, Brinkman CL, Schmidt-Malan SM, Karau MJ, Greenwood-Quaintance K, Hassett DJ, Mandrekar JN, Patel R
  [細菌バイオフィルムの電流ばく露は活性酸素種が部分的に介在する細胞死につながる] [med./bio.]
  PLoS One 11 (12): e0168595
• 2016, Jain S, Vojisaveljevic V, Pirogova E
  [酵母細胞の増殖に対する1800 MHzおよび2100 MHzの低電力マイクロ波の影響] [med./bio.]
  2016 IEEE MTT-S International Microwave and RF Conference (IMaRC), New Delhi, India. IEEE; ISBN 978-1-5090-4686-7
• 2016, Kral N, Hanna Ougolnikova A, Sena G
  [外部から印加された電界は植物の根端の再生を強化する] [med./bio.]
  Regeneration 3 (3): 156-167
• 2016, Inoue T, Sugiyama T, Ikoma T, Shimazu H, Wakita R, Fukayama H
  [直流および交流電流と組み合わせたイオン導入療法によるリドカインの薬物送達および透過] [tech./dosim.]
  J Med Dent Sci 63 (4): 71-77
• 2016, Turner MC, Sadetzki S, Langer CE, Villegas PhD R, Figuerola J, Armstrong BK, Chetrit A, Giles GG, Krewski D, Hours M, McBride ML, Parent ME, Richardson L, Siemiatycki J, Woodward A, Cardis E
  [5つのINTERPHONE諸国における症例および対照のインタビュー日の差異に関連するバイアスの調査] [tech./dosim.]
  Ann Epidemiol 26 (12): 827-832.e2
• 2016, Aziz PDA, Razak ALA, Bakar MIA, Aziz NA
  [テスラコイル技術を用いた無線電力伝送に関する検討] [tech./dosim.]
  2016 International Conference on Sustainable Energy Engineering and Application (ICSEEA), Jakarta, Indonesia. IEEE; ISBN 978-1-5090-2900-6
• 2016, Thaijiam C, Woradit K, Leela N, Kaewwibool P
  [詳細] [携帯電話の電磁放射は人の健康を害するか？] [review]
  2016 9th Biomedical Engineering International Conference (BMEiCON), Laung Prabang, Laos. IEEE; ISBN 978-1-5090-3940-1
• 2016, Gümüşay M, Gülbağça F, Sayğili S, Aydemir I, Kaya A, Tuğlu MI
  [ラットの創傷治癒に対するパルス化電磁界およびパルス化無線周波エネルギーの影響の圧縮（トルコ語）] [foreign-language]
  [2016 Medical Technologies National Congress (TIPTEKNO), Antalya, Turkey]. IEEE; ISBN 978-1-5090-2387-5
• 2016, Wenger C, Bomzon Z, Salvador R, Basser PJ, Miranda PC
  [TTFieldsをシミュレートするための単純化された現実的な人体頭部モデル] [tech./dosim.]
  2016 38th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC), Orlando, FL, USA. IEEE: pp. 5664-5667; ISBN 978-1-4577-0220-4