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キーワード: T-Lymphozyten, T-Zellen, "T lymphocytes", "T cells", Tリンパ球, T細胞

• 2018, Choi J, Hwang JH, Lim H, Joo H, Yang HS, Lee YH, Eeftens M, Struchen B, Röösli M, Lee AK, Choi HD, Kwon JH, Ha M
  [韓国人の子ども及び親における身体の投影を考慮した個人測定からの無線周波電磁界ばく露の評価] [tech./dosim.]
  Sci Total Environ 627: 1544-1551
• 2018, Cottone C, Cancelli A, Pasqualetti P, Porcaro C, Salustri C, Tecchio F
  A New, High-Efficacy, Noninvasive Transcranial Electric Stimulation Tuned to Local Neurodynamics [med./bio.]
  J Neurosci 38 (3): 586-594
• 2018, Anthony P, McArdle S, McHugh M
  [Tumor Treating Fields［腫瘍治療装置の名称］：高グレードの神経膠腫に対する補助的治療] [basics]
  Semin Oncol Nurs 34 (5): 454-464
• 2018, Jin L, Hu B, Li Z, Li J, Gao Y, Wang Z, Hao J
  [間葉系幹細胞の成長挙動に対する電気刺激と整列ナノファイバー微小環境の相乗効果] [med./bio.]
  ACS Appl Mater Interfaces 10 (22): 18543-18550
• 2018, Zubaer MM, Uddin MF
  [結合時間スケジューリング及び電力制御による携帯電話基地局からの電波ばく露の低減] [tech./dosim.]
  2018 10th International Conference on Electrical and Computer Engineering (ICECE), Dhaka, Bangladesh. IEEE: pp. 281-284; ISBN 978-1-5386-7483-3
• 2018, Li C, Xing S, Lei J, Zhao J, Shao Q, Chen R
  [自動車内の携帯電話からのRFばく露のドシメトリの数値シミュレーションによる評価] [tech./dosim.]
  2018 12th International Symposium on Antennas, Propagation and EM Theory (ISAPE), Hangzhou, China. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-5386-7303-4
• 2018, Baranowska A, Skowron B, Gil K, Kaszuba-Zwoińska J
  [脂肪由来幹細胞（ADSC）からの炎症メディエーターの放出に対するパルス化電磁界の影響] [med./bio.]
  Folia Med Cracov 58 (4): 21-34
• 2018, Zha M, Tao Q, Li J, Tian X, Feng S, Liao Z, Fang Z, Zhang X
  [中程度の強度の低周波回転磁界はマウスにおける乳がんの成長を抑制する] [med./bio.]
  Electromagn Biol Med 37 (4): 192-201
• 2018, Fujita A
  [THzパルスばく露細胞の近傍での電界のFDTDシミュレーションを用いた可視化] [tech./dosim.]
  2018 Progress in Electromagnetics Research Symposium (PIERS-Toyama), Toyama, Japan. IEEE: pp. 2006-2010; ISBN 978-1-5386-5455-2
• 2018, Awada B, Madi G, Mohsen A, Harb A, Diab A, Hamawy L, Hajj-Hassan H, Hajj-Hassan M
  [ヒトの脳に対する5G携帯電話放射の影響のシミュレーション] [tech./dosim.]
  2018 IEEE International Multidisciplinary Conference on Engineering Technology (IMCET), Beirut, Lebanon. 第第11版; IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-5386-4501-7