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キーワード: S-Phase, "S phase", S期

• 2021
  [能動的体内植込み型医療機器を装着した労働者の電磁界ばく露の評価のための手順‐第2部：体内植込み型神経刺激装置を有する労働者の個別評価；ドイツ語および英語版prEN 50527-2-3:2019] [guideline]
  German Commission for Electrical, Electronic & Information Technologies of DIN and VDE (DKE), E DIN EN 50527-2-3 VDE 0848-527-2-3:2021-03
• 2021, Mijatovic G, Djuric N, Kljajic D, Milutinov M, Kasas-Lazetic K, Stramaglia S, Faes L
  [電界強度の時系列の複雑性と非線形性の分析] [tech./dosim.]
  2021 29th Telecommunications Forum (TELFOR), Belgrade, Serbia. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-6654-2586-5
• 2021, Ledent M, Bordarie J, Dieudonne M, Prignot N, De Clercq E, Bouland C
  [電磁過敏症におけるばく露研究への参加の際の推進要因と障壁] [foreign-language]
  Santé Publique 33 (4): 493-503
• 2021, Valdani Vicari & Associati (VVA), PolicyTracker, LS telcom AG
  [5G観測所‐四半期報告13‐2021年10月まで] [info]
  European Commission, Study on “European 5G Observatory phase III", CNECT/2021/OP/0008: 1-135
• 2021, Sorgucu U, Develi I
  [ソフトコンピューティング法を用いた900 MHzの周波数で調整された組織等価液体の電気的値の決定] [tech./dosim.]
  2021 IEEE International Conference on Electronics, Computing and Communication Technologies (CONECCT), Bangalore, India. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-2850-7
• 2021, Faraji N, Salehi I, Alizadeh A, Pourgholaminejad A, Komaki A, Azandaryani MT, Sadeghian R, Golipoor Z
  [成体ラットの学習、記憶、不安およびベータアミロイド沈着に対する異なる値の超低周波電磁界への長期ばく露の影響の比較] [med./bio.]
  Basic Clin Neurosci 12 (6): 849-860
• 2021, Guo R, Zheng J, Kainz W, Chen J
  [人工肩を持つ患者の1.5 T MRIでのRF誘発加熱に対する画期的な効果] [tech./dosim.]
  2021 IEEE International Symposium on Antennas and Propagation and USNC-URSI Radio Science Meeting (APS/URSI), Singapore. IEEE: pp. 141-142; ISBN 978-1-7281-4671-3
• 2021, Razzaghi M, Asghari-Azghan A, Montazeri S, Razzaghi Z, Mazloomfard MM, Vafaee R
  [腹圧性尿失禁治療のための膣内パルス収縮高周波：安全性研究] [med. app.]
  J Lasers Med Sci 12: e56
• 2021, Liu Y, Yu L, Che X, Yan M
  [痛みのエピソードの状況に応じてより大きな鎮痛および皮質興奮性の変化を実証するための長期連続シータバースト刺激] [med. app.]
  Front Aging Neurosci 13: 804362
• 2021, Derat B, Erkocevic M, Hamberger GF
  [無線測定からの近傍界ミリ波電力密度の再構築] [tech./dosim.]
  2021 IEEE Conference on Antenna Measurements & Applications (CAMA), Antibes Juan-les-Pins, France. IEEE: pp. 306-310; ISBN 978-1-7281-9698-5