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キーワード: Radio, Rundfunk, broadcast, 放送

• 2021, Chiaramello E, Plets D, Fiocchi S, Bonato M, Tognola G, Parazzini M, Le Brusquet L, Martens L, Joseph W, Ravazzani P
  [無線周波電磁界発生源への居住環境ばく露についての革新的な確率論的モデリング] [tech./dosim.]
  IEEE J Electromagn RF Microw Med Biol 5 (1): 62-69
• 2021, Tokaya JP, van den Berg CAT, Luijten PR, Raaijmakers AJE
  [トランスファーマトリクスを用いたMRI中の植え込み型医療機器のRF誘導電流パターンの説明] [dev./impl.]
  Med Phys 48 (1): 132-141
• 2021, Aghajari S, Mortazavi SMJ, Kalani M, Nematolahi S, Habibzadeh P, Farjadian S
  [後肢除荷のマウスモデルにおける血清サイトカインレベルに対する無線周波電磁界の免疫調節効果] [med./bio.]
  Cell J 22 (4): 401-405
• 2021, Michno A, Kirkor Z, Gojtowska E, Suchorzewski M, Śmietańska I, Baścik B
  [パルス化高周波神経調節はイン・ビトロ条件での多血小板血漿の活性化に寄与する] [med./bio.]
  Neuromodulation 24 (8): 1451-1457
• 2021, Brzozek C, Zeleke BM, Abramson MJ, Benke KK, Benke G
  [無線周波電磁界ばく露評価：携帯電話の信号強度及び送信電力レベルについてのパイロット研究] [tech./dosim.]
  J Expo Sci Environ Epidemiol 31 (1): 62-69
• 2021, Tuncal S, Onalan AK, Aydogan F, Unsal V, Yumusak N, Buyukatalay E, Ozturk G, Seyhan N, Celepli S, Devrim E, Kilicoglu B
  [甲状腺組織に対する2100 MHz無線周波電磁放射の影響] [med./bio.]
  West Indian Med J 69 (1): 51-55
• 2021
  [BOSデジタルラジオに関する質問と回答] [info]
  Federal Agency for Public Safety Digital Radio (BDBOS), 1-71
• 2021, Perret D, Kim DS, Li KW, Luo ZD
  [末梢神経損傷による神経因性疼痛モデルにおける脊髄後根神経節のパルス無線周波電流へのばく露] [med./bio.]
  Luo ZD (ed.): Pain Research. Methods in Molecular Biology, 851巻; Humana Press, Totowa; pp. 275-284; ISBN 978-1-61779-560-2
• 2020, Chaouche YB, Nedil M, Ben Mabrouk I
  High Gain Circularly Polarized Antenna Loaded With Dual-Band AMC structure for WBAN Applications [tech./dosim.]
  2020 IEEE International Symposium on Antennas and Propagation and North American Radio Science Meeting, Montreal, QC, Canada. IEEE: pp. 871-872; ISBN 978-1-7281-6671-1
• 2020, Svistunou A
  Estimation of Electromagnetic Background Intensity Created by GSM Cellular Networks Base Stations with High Spatial Density on Urban Area [tech./dosim.]
  2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE, Rome, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-7281-5580-7