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キーワード: Mobilfunk, Mobilkommunikation, "mobile communication", "cellular radio", "mobile radio", セルラー無線, 移動無線

• 2022, Merluzzi M, Bories S, Strinati EC
  [電磁界ばく露についての制約のあるエネルギー効率の良い動的エッジコンピューティング] [tech./dosim.]
  2022 Joint European Conference on Networks and Communications & 6G Summit (EuCNC/6G Summit), Grenoble, France. IEEE: pp. 202-207; ISBN 978-1-6654-9872-2
• 2022, Awarkeh N, Phan-Huy DT, Di Renzo M
  [角度等化の仮想伝搬チャネルを使用した新しいRIS支援電磁界ばく露認識アプローチ] [tech./dosim.]
  2022 Joint European Conference on Networks and Communications & 6G Summit (EuCNC/6G Summit), Grenoble, France. IEEE: pp. 500-505; ISBN 978-1-6654-9872-2
• 2022, Hannan S, Islam MT, Soliman MS, Faruque MRI, Misran N, Islam MS
  [比吸収率の低減のための3.5GHz 5Gn78モバイルデバイス用の共偏波非感受性メタマテリアルアブソーバー] [tech./dosim.]
  Sci Rep 12: 11193
• 2022, Boateng ID
  [毒物、毒素、および放射線に対するイチョウ抽出物の可能性：批評的レビュー] [review]
  Food Funct 13 (15): 7960-7983
• 2022, Ministry of Health
  [非電離電磁界の健康影響についての省庁間委員会：大臣への報告2022] [info]
  Ministry of Health, Wellington; ISBN 978-1-991100-56-6
• 2022, Noé N, Gaudaire F
  [将来の電磁界ばく露評価のための都市環境における3.5 GHz帯域の5G MU-MIMO放射パターンのシミュレーション] [tech./dosim.]
  2022 3rd URSI Atlantic and Asia Pacific Radio Science Meeting (AT-AP-RASC), Gran Canaria, Spain. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-6654-9986-6
• 2022, Thielens A
  [昆虫の遠方界高周波ドシメトリ] [tech./dosim.]
  2022 3rd URSI Atlantic and Asia Pacific Radio Science Meeting (AT-AP-RASC), Gran Canaria, Spain. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-6654-9986-6
• 2022, Jiang Y, Wu T
  [身体の表面積に依存した高周波ばく露の統計的分析] [tech./dosim.]
  2022 3rd URSI Atlantic and Asia Pacific Radio Science Meeting (AT-AP-RASC), Gran Canaria, Spain. IEEE: pp. 1-3; ISBN 978-1-6654-9986-6
• 2022, Mazloum T, Wang S, Wiart J
  [地下鉄駅での分散アンテナシステムによる高周波電磁界ばく露] [tech./dosim.]
  2022 3rd URSI Atlantic and Asia Pacific Radio Science Meeting (AT-AP-RASC), Gran Canaria, Spain. IEEE: pp. 1-2; ISBN 978-1-6654-9986-6
• 2022, Zhu W, Xu X, Wu T, Li C
  [IQミキシング技法に基づくミリ波電界用の測定スキーム] [tech./dosim.]
  2022 3rd URSI Atlantic and Asia Pacific Radio Science Meeting (AT-AP-RASC), Gran Canaria, Spain. IEEE: pp. 1-3; ISBN 978-1-6654-9986-6