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キーワード: Mobilfunk, Mobilkommunikation, "mobile communication", "cellular radio", "mobile radio", セルラー無線, 移動無線

• 2022, Nozadze T, Henke K, Kurtsikidze M, Jeladze V, Ghvedashvili G, Zaridze R
  [3700 MHzの周波数での自由空間への携帯電話のダイポールアンテナマッチング条件に対する手の影響についての研究] [tech./dosim.]
  2022 IEEE 2nd Ukrainian Microwave Week (UkrMW), Ukraine. IEEE: pp. 439-443; ISBN 9798350331530
• 2022
  [「第5世代移動通信技術の展開に関連した電磁界への人口集団のばく露とそれに関する健康影響」についてのフランス国立食品環境労働衛生安全庁の2021年4月12日付提言を更新する提言] [guideline]
  French Agency for Food, Environmental and Occupational Health & Safety (ANSES), ANSES Opinion, Request No 2019-SA-0006: 1-25
• 2022
  [ワイヤレス通信の電磁界：生物学的影響および健康影響（書籍）] [basics]
  Panagopoulos DJ (ed.): CRC Press, Boca Raton; ISBN 978-1-032-06175-7
• 2022, More CS, Markad NT
  [携帯電話タワーの放射の性能分析] [tech./dosim.]
  2022 International Conference on Computing, Communication, and Intelligent Systems (ICCCIS), Greater Noida, India. IEEE: pp. 383-388; ISBN 978-1-6654-6201-3
• 2022, Derat B, Celik M, Wittmann M, El Hajj W, Colombi D
  [放射電磁界測定からの近傍界電力密度の再構築の数値的および実験的検証] [tech./dosim.]
  2022 Antenna Measurement Techniques Association Symposium (AMTA), Denver, CO, USA. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-8427-5
• 2022, Sharma D, Chauhan A, Thakur S
  [若年成人の聴覚に対する携帯電話使用の影響：観察研究] [epidem.]
  Indian J Otolaryngol Head Neck Surg 74 Suppl 3: 3754-3757
• 2022, Hamza Sladicekova K, Misek J, Jakusova V, Ulbrichtova R, Veternik M, Parizek D, Jakus J
  [ヒト頭部ファントムに対する携帯電話ばく露時の保健防護アクセサリーの減衰特性] [tech./dosim.]
  Prz Elektrotechniczny 98 (8): 63-68
• 2022, Popović Saković M, Koprivica M, Milinković J, Nešković A
  [モバイルネットワークデータ測定を用いた平均的な地球規模の電磁界ばく露の評価] [tech./dosim.]
  2022 30th Telecommunications Forum (TELFOR), Belgrade, Serbia. IEEE: p. 1; ISBN 978-1-6654-5195-6
• 2022, Aeen MP, Mahdavi SM, Maghami P, Modarresi Chahardehi A
  [雄ラットの記憶、温度感受性および血清タンパク質に対する2.4 GHz帯の非電離電磁界の影響] [med./bio.]
  Act Nerv Super Rediviva 64 (2-3): 77-85
• 2022, Pustake S, Upadhyaya V, Bundele M
  [発芽種子の更なる成長に対する4G-5G周波数のモバイル信号の研究および分析] [med./bio.]
  2022 IEEE Pune Section International Conference (PuneCon), Pune, India. IEEE: pp. 1-7; ISBN 978-1-6654-9898-2