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キーワード: Mittelwert, "arithmetischer Mittelwert", Mittel, "arithmetic mean", "mean value", mean, 算術平均, 平均値, 平均

• 2024, Hu M, Nitsche MA, Lv Y, Han H, Lin X, Qi F
  [軽度認知障害を有する高齢者における記憶機能に対する反復経頭蓋磁気刺激および経頭蓋直流刺激の効果：系統的レビューおよびメタ分析] [review]
  Front Hum Neurosci 18: 1436448
• 2024, Ruffini G, Salvador R, Castaldo F, Baleeiro T, Camprodon JA, Chopra M, Cappon D, Pascual-Leone A
  [大うつ病性障害に対する高度なターゲティングを用いた多チャンネル経頭蓋直流刺激（tDCS）：遠隔監視による在宅パイロット研究] [med. app.]
  Front Psychiatry 15: 1427365
• 2024, Deprez K, Van de Steene T, Verloock L, Tanghe E, Gommé L, Verlaek M, Goethals M, van Campenhout K, Plets D, Joseph W
  [高圧送電線からの50 Hz時間的磁界モニタリング：センサーの設計と実験的検証] [tech./dosim.]
  Sensors 24 (16): 5325
• 2024, Malvandi H, Fallahi M, Saghi MH, Hassanzadeh N
  [イラン・サブゼバルの基地局アンテナ周辺住民の電界ばく露レベルと睡眠の質との関係の評価] [epidem.]
  Radiat Prot Dosimetry 200 (15): 1405-1415
• 2024, Koenig V, Tratnig-Frankl P, Pittermann A, Windpassinger M, Joestl J, Aszmann O
  [列車登り―青年における新たな古いトレンド：高電圧傷害の治療と意識向上のためのパイロットプロジェクトの計画] [elec. inj.]
  Wien Klin Wochenschr 136 (19-20): 570-574
• 2024, Akram S, Nanji I, Deniz I, Akram F, Mukhtar F
  [大うつ病性障害に対する維持反復経頭蓋磁気刺激療法：メタ分析] [temp.]
  J ECT [in press]
• 2024, Di Lazzaro V, Ranieri F, Doretti A, Boscarino M, Maderna L, Colombo E, Soranna D, Zambon A, Ticozzi N, Musumeci G, Capone F, Silani V
  [筋萎縮性側索硬化症に対する経頭蓋静磁気刺激：二重盲検プラセボ対照フェーズ2試験] [med. app.]
  Lancet Reg Health Eur 45: 101019
• 2024, Competence Centre Electromagnetic Fields (KEMF)
  [Ramirez-Vazquez他「高周波電磁界への個人ばく露の測定研究：系統的レビュー」（Environmental Research (2023)）にスポットライトを当てる] [comment]
  Federal Office for Radiation Protection (BfS) (ed.), Spotlight, Jun/2024 no.4: 1-6
• 2024, Huang Y, Zelmann R, Hadar P, Dezha-Peralta J, Richardson RM, Williams ZM, Cash SS, Keller CJ, Paulk AC
  [シータバースト直流電気刺激はヒトの脳ネットワークを再構築する] [med. app.]
  Nat Commun 15: 6982
• 2024, Rosabal OM, López OA, Montejo-Sánchez S, Souza RD, Alves H, Latva-aho M
  [RIS支援型WETシステムにおける平均局所電磁界ばく露および電力消費] [tech./dosim.]
  2024 19th International Symposium on Wireless Communication Systems (ISWCS), Rio de Janeiro, Brazil. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350362527