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キーワード: Kalium, K⁺, K+, potassium, カリウム

• 2024, Hallajian AH, Sharifi K, Rostami R, Saeed F, Mokarian Rajabi S, Zangenehnia N, Amini Z, Askari Z, Vila-Rodriguez F, Salehinejad MA
  [統合失調症における3 mA前頭前野電気刺激の神経認知効果：無作為化偽刺激対照tDCS-fMRI試験プロトコル] [basics]
  PLoS One 19 (8): e0306422
• 2024, Nordin LE, Åberg K, Kihlberg J, Owman T, Hansson B, Björkman-Burtscher IM, Petersen C, Lundberg P
  [ESRエッセンシャル：欧州磁気共鳴医学・生物学会によるMR安全性に関する基礎物理学と実践的推奨] [basics]
  Eur Radiol [in press]
• 2024, Nguyen PT, Makowiecki K, Lewis TS, Fortune AJ, Clutterbuck M, Reale LA, Taylor BV, Rodger J, Cullen CL, Young KM
  [低強度反復経頭蓋磁気刺激はクプリゾンモデルの中毒性脱髄において新生および生存するオリゴデンドロサイトによる再髄鞘化を促進する] [med. app.]
  Cell Mol Life Sci 81 (1): 346
• 2024, Canlı K, Van Oijen J, Van Oosterwijck J, Meeus M, Van Oosterwijck S, De Meulemeester K
  [末梢神経障害における皮膚感覚再訓練が大脳皮質の再編成に及ぼす影響：系統的レビュー] [review]
  PM&R 16 (8): 888-907
• 2024, Arai S, Kobayashi R, Adachi M, Kimura K, Masai H
  [ヨーロッパコマドリ由来クリプトクロム4aの二次元配列化の可能性] [tech./dosim.]
  Biochem Biophys Res Commun 737: 150513 [in press]
• 2024, Akdag MZ, Dasdag S, Gelir A, Akdag MB, Gem M, Baksi N, Akpinar F, Bicak T, Arica E, Kutluer S, Arican R, Kilinc H
  [4 Hzおよび多周波パルス電磁界（PEMF）が骨折治癒に及ぼす影響] [med./bio.]
  Biotechnol Biotechnol Equip 38 (1): 2385415
• 2024, Mittal R, McKenna K, Keith G, McKenna E, Sinha R, Lemos JRN, Hirani K
  Systematic review of translational insights: Neuromodulation in animal models for Diabetic Peripheral Neuropathy [review]
  PLoS One 19 (8): e0308556
• 2024, Lee W, Ryu K, Li Z, Oscanoa J, Wu Y, Robb F, Vasanawala S, Pauly J, Scott G
  MRI retrospective respiratory gating and cardiac sensing by CW Doppler radar: A feasibility study [tech./dosim.]
  IEEE Trans Biomed Eng [in press]
• 2024, Ni R, Liu Y, Jiang J, Zhang W, Chen X, Liu J, Tang W, Wang K, Zhu C, Bu J
  [中等度強迫性障害患者の症状軽減のための連続シータバースト刺激：外部検証を伴う予備的研究] [med. app.]
  Transl Psychiatry 14: 321
• 2024, Gryz K, Karpowicz J, Zradziński P
  [電磁界ばく露の（準）自律的評価におけるデータロガーのバンド外感度から生じる課題と機会] [tech./dosim.]
  2024 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Rome, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350370546