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11942件の論文が見つかりました。

キーワード: Induktion, induktives, induction, 誘導

• 2020, Dergham I, Martinez Rocha JC, Imad R, Alayli Y
  [一人乗り電動カートのワイヤレス充電がヒトの健康および車台の温度上昇に対する影響] [tech./dosim.]
  2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE, Rome, Italy. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-1-7281-5580-7
• 2020, Rathebe PC
  [南アフリカのムプマランガ州ンゴディニの中電圧送電線下のELF磁界の放射レベル] [tech./dosim.]
  2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE, Rome, Italy. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-7281-5580-7
• 2020, Simonazzi M, Sandrolini L, Reggiani U
  [共振器アレイを備えた誘導式電力伝達システムの近傍磁界の調査および遮へい効果の評価] [tech./dosim.]
  2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE, Rome, Italy. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-1-7281-5580-7
• 2020, Laakso I
  [低周波での計算ドシメトリ：最近の進展および残された論点] [basics]
  2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE, Rome, Italy. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-7281-5580-7
• 2020, Lämmle T, Parspour N, Mönch M
  [アルミニウムシールドの影響力下での誘導式電力伝送システムにおける磁界分布の分析] [tech./dosim.]
  2020 5th International Conference on Smart and Sustainable Technologies (SpliTech), Split, Croatia. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-7281-7363-4
• 2020, Borzoueisileh S, Shabestani Monfared A, Ghorbani H, Mortazavi SMJ, Zabihi E, Pouramir M, Shafiee M, Niksirat F
  [腎組織および腎機能における無線周波電磁界とエックス線の複合効果] [med./bio.]
  Res Rep Urol 12: 527-532
• 2020, Kasikci MT, Koc G
  [どの反復的経頭蓋磁気刺激法が健康な被験者の血管運動反応性に影響し、それはどのくらい持続するか？] [med. app.]
  Somatosens Mot Res 37 (4): 300-306
• 2020, Tachizaki T, Sakaguchi R, Terada S, Kamei KI, Hirori H
  [ヒト人工多能性幹細胞におけるテラヘルツパルスによって変化した遺伝子ネットワーク] [med./bio.]
  Opt Lett 45 (21): 6078-6081
• 2020, Matsubara K, Wada K, Suzuki Y
  [デュアル空芯インダクタを使用した生物学的評価のための磁界発生器のばく露領域の拡大] [tech./dosim.]
  2020 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE), Detroit, MI, USA. IEEE: pp. 451-455; ISBN 978-1-7281-5827-3
• 2020, Mohammad M, Pries JL, Onar OC, Galigekere VP, Su GL
  [50 kW三相ワイヤレス充電システムのシールド設計] [tech./dosim.]
  2020 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE), Detroit, MI, USA. IEEE: pp. 842-849; ISBN 978-1-7281-5827-3