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11942件の論文が見つかりました。

キーワード: Induktion, induktives, induction, 誘導

• 2023, Kim K, Nan G, Kim L, Kwon M, Lee KH, Cha M, Lee BH
  [島皮質刺激はニューロンのERKリン酸化を介して神経因性疼痛を緩和する] [med./bio.]
  CNS Neurosci Ther 29 (6): 1636-1648
• 2023, Bradlaugh AA, Fedele G, Munro AL, Hansen CN, Hares JM, Patel S, Kyriacou CP, Jones AR, Rosato E, Baines RA
  [ショウジョウバエのラジカルペア磁気感受性の必須要素] [med./bio.]
  Nature 615 (7950): 111-116
• 2023, Franczak A, Drzewiecka EM, Kozlowska W, Zmijewska A, Wydorski PJ
  [超低周波電磁界（ELF-EMF）は子宮筋層におけるエピジェネティックな調節に変化を生じる‐イン・ビトロ研究] [med./bio.]
  Theriogenology 200: 136-146
• 2023, Lazzarini R, Eléxpuru-Zabaleta M, Piva F, Giulietti M, Fulgenzi G, Tartaglione MF, Zingaretti L, Tagliabracci A, Valentino M, Santarelli L, Bracci M
  [ヒトMDA-MB-231乳がん細胞に対する超低周波磁界の影響：プロテオミクス特性評価] [med./bio.]
  Ecotoxicol Environ Saf 253: 114650
• 2023
  [IEC/IEEE国際規格草案‐ハンドヘルドおよびボディマウント式のワイヤレス通信デバイスからの高周波電磁界へのヒトのばく露の比吸収率の評価のための測定手順‐その3：ベクトル測定に基づくシステム（300 MHzから6 GHzの周波数範囲）] [temp.]
  International Electrotechnical Commission (IEC), Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), P62209-3/ED2, Feb 2023: 1-209, ISBN 978-1-5044-9471-7
• 2023, Demjan M, Säisänen L, Reijonen J, Rissanen S, Määttä S, Julkunen P
  [経頭蓋磁気刺激における運動誘発電位の近閾値リクルートメント特性] [med. app.]
  Brain Res 1805: 148284
• 2023, Mohamed AO, Hafez SMNA, Ibrahim RA, Rifaai RA
  [運動はWi-Fi放射による海馬損傷を改善する：生化学的、組織学的および免疫組織化学的研究] [retracted]
  J Chem Neuroanat 129: 102252
• 2023, Hasan NI, Wang D, Gomez LJ
  [低ランクの確率論的行列分解（PMD）を介した迅速で正確な人口集団レベルの経頭蓋磁気刺激] [tech./dosim.]
  bioRxiv: the Preprint Server for Biology (bioRxiv), 2023.02.08.527758
• 2023, Deng ZD, Robins PL, Dannhauer M, Haugen LM, Port JD, Croarkin PE
  [反復的経頭蓋磁気刺激を受けるうつ病の若年者における背外側前頭前皮質を標的とするコイル配置アプローチの比較：電界モデリング研究] [tech./dosim.]
  medRxiv: the Preprint Server for Health Sciences (medRxiv), 2023.02.06.23285526: 1-18
• 2023, Nandikanti A, Zheng J, Hu W, Chen J
  [創外固定システムにおける高周波誘導加熱の低減のための強磁性体の利用の適用可能性についての研究] [dev./impl.]
  2023 United States National Committee of URSI National Radio Science Meeting (USNC-URSI NRSM), Boulder, CO, USA. IEEE: pp. 81-82; ISBN 978-1-6654-7642-3