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キーワード: Biologie, biology, 生物学

• 2016, Rostamzadeh A, Mohammadi M, Ahmadi R, Nazari A, Ghaderi O, Anjomshoa M
  [電磁波ばく露後にイン・ビトロで発生させたマウス胚の評価：形態学的研究] [med./bio.]
  Electron Physician 8 (1): 1701-1710
• 2016, Milham S, Stetzer D
  [シャワー中の接触電流が原因の病気] [comment]
  Electromagn Biol Med 35 (3): 205
• 2016, Liboff AR
  [磁気は電磁気の知覚を持つことと相関性がある] [tech./dosim.]
  Electromagn Biol Med 35 (3): 228-236
• 2016, Shahbazi-Gahrouei D, Hashemi-Beni B, Ahmadi Z
  [ヒトの脂肪由来幹細胞の増殖速度に対するGSM携帯電話からのRF-EMばく露の影響：イン・ビトロ研究] [med./bio.]
  J Biomed Phys Eng 6 (4): 243-252
• 2016, Ailijiang N, Chang J, Liang P, Li P, Wu Q, Zhang X, Huang X
  [生物電気化学反応器で導電性キャリア上に形成されたバイオフィルムにおけるフェノールの生物分解および微生物群の反応に対する電気的活性化] [tech./dosim.]
  Bioresour Technol 201: 1-7
• 2016, Essaid B, Batel N
  [生体医用インプラントにおけるRFパワー減衰の評価：コイルの誤配置と生体組織吸収との組み合わせによる影響] [tech./dosim.]
  2016 8th International Conference on Modelling, Identification and Control (ICMIC), Algiers. IEEE; ISBN 978-1-5090-1594-8
• 2016, Karaki W, Akyildiz A, Borca Tasciuc DA, De S
  [電気外科手術における温度依存的な見かけの比熱の測定] [med./bio.]
  Westwood JD, Westwood SW, Felländer-Tsai L, Fidopiastis CM, Liu A, Senger S, Vosburgh KG (eds.): Medicine Meets Virtual Reality 22. Studies in Health Technology and Informatics, 220巻; IOS Press, Amsterdam; pp. 171-174; ISBN 978-1-61499-624-8
• 2016, Minchen Q, Lisheng Z, Xiaoyuan S, Jiaxi H, Jinghui G, Qinxue Y
  [SDラットの組織に関する周波数範囲42Hz–5MHzでの緩和分極モデル] [tech./dosim.]
  2016 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP), Toronto, ON, Canada. IEEE; ISBN 978-1-5090-4655-3
• 2016, Wada K, Matsubara K, Yoshino H, Suzuki Y, Ushiyama A, Ohtani S, Hattori K, Ishii K
  [生物学的影響評価のための85kHz磁界ばく露システムの開発] [tech./dosim.]
  2016 IEEE PELS Workshop on Emerging Technologies: Wireless Power Transfer (WoW), Knoxville, TN, USA. IEEE; ISBN 978-1-5090-3415-4
• 2016, Soueid M, Ghazi N, Leveque P, Arnaud-Cormos D, Carr L, O'Connor RP
  [生体細胞ばく露を目的とした間隙1mmのギャップ電極型送達デバイスにおけるnsPEFの特性記述] [tech./dosim.]
  2016 IEEE Middle East Conference on Antennas and Propagation (MECAP), Beirut, Lebanon. IEEE; ISBN 978-1-5090-5491-6