文献検索結果

19802件の論文が見つかりました。

キーワード: 電磁界, "Elektromagnetisches Feld", EMF, "electromagnetic field"

• 2021, Kopacz T, Schiffarth AM, Wuschek M, Bornkessel C
  [ノルトライン・ヴェストファーレン州における電磁界‐5G携帯電話送信設備の近傍での測定] [info]
  Zwischenbericht zu AP1 und AP2: 1-77
• 2021, Tereshchenko PE
  [超低周波帯の電磁界の磁気成分構造] [tech./dosim.]
  2021 Antennas Design and Measurement International Conference (ADMInC), Saint Petersburg, Russian Federation. IEEE: pp. 41-43; ISBN 978-1-6654-1756-3
• 2021, Dolchinkov NT, Loktionov OA, Korolev IV, Karaivanova-Dolchinkova BE
  [人体への電磁波の影響力] [basics]
  2021 Sixth Junior Conference on Lighting (Lighting), Gabrovo, Bulgaria. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-1-6654-3793-6
• 2021, Spandana PS, Jayasree PVY, Ganti H
  [TLMを用いた透明な単一シールドを備えるヒト頭部に対するSARの分析] [tech./dosim.]
  2021 IEEE International Conference on Intelligent Systems, Smart and Green Technologies (ICISSGT), Visakhapatnam, India. IEEE: pp. 162-166; ISBN 978-1-6654-4726-3
• 2021
  [現在の5Gネットワーク拡張における移動通信の電磁界‐低い周波数範囲（FR1、約7 GHzまで）における技術的側面および生物学的影響：ドイツ放射線防護委員会の声明] [guideline]
  German Commission on Radiological Protection (SSK), 1-147
• 2021, Yang B, Wang R
  [超高圧送電線下の電磁誘導計算および補助計算ソフトウェアの設計] [tech./dosim.]
  Energy Rep 7 Suppl 7: 1159-1167
• 2021, Faraji N, Salehi I, Alizadeh A, Pourgholaminejad A, Komaki A, Azandaryani MT, Sadeghian R, Golipoor Z
  [成体ラットの学習、記憶、不安およびベータアミロイド沈着に対する異なる値の超低周波電磁界への長期ばく露の影響の比較] [med./bio.]
  Basic Clin Neurosci 12 (6): 849-860
• 2021, Blachowicz T, Ehrmann A, Malczyk M, Stasiak A, Osadnik R, Paluch R, Koruszowic M, Pawlyta J, Lis K, Lehrich K
  [微小重力と定義された磁界における植物の生長] [review]
  2021 International Conference on Electrical, Computer, Communications and Mechatronics Engineering (ICECCME), Mauritius, Mauritius. IEEE: pp. 1-8; ISBN 978-1-6654-2943-6
• 2021, Theodorou K, Tyrakis C, Softa V, Kappas C
  [5Gとヒトの健康] [misc.]
  J BUON 26 (5): 1698-1708
• 2021, Caramazza L, Marracino P, Schifaudo C, Liberti M, Apollonio F
  [RF電磁界に対する水和脂質二重層の応答：分子動力学調査] [tech./dosim.]
  2021 IEEE MTT-S International Microwave and RF Conference (IMARC), KANPUR, India. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-6654-5876-4