文献検索結果

11981件の論文が見つかりました。

キーワード: 無線周波, Hochfrequenz, HF, "radio frequency", RF

• 2024, Nuccitelli R, McDaniel A
  [腫瘍学におけるナノパルス刺激療法] [med./bio.]
  Bioelectricity 6 (2): 72-79
• 2024, Ali U, Ullah S, Basir A, Yan S, Ren H, Kamal B, Matekovits L
  [WBANアプリケーション向けのメタマテリアルに着想を得たデュアルバンドアンテナの設計と性能調査] [tech./dosim.]
  PLoS One 19 (8): e0306737
• 2024, Chen B, Gao YC, Li XJ, Dong YW, Mao S, Yi HL, Xiong M
  [ヒトの健康に対する自動車の電磁放射の影響の評価方法の改善とその防護] [tech./dosim.]
  2024 Photonics & Electromagnetics Research Symposium (PIERS), Chengdu, China. IEEE: pp. 1-9; ISBN 9798350375916
• 2024, Lee W, Ryu K, Li Z, Oscanoa J, Wu Y, Robb F, Vasanawala S, Pauly J, Scott G
  MRI retrospective respiratory gating and cardiac sensing by CW Doppler radar: A feasibility study [tech./dosim.]
  IEEE Trans Biomed Eng [in press]
• 2024, Dalhuisen I, van Oostrom I, Spijker J, Wijnen B, van Exel E, van Mierlo H, de Waardt D, Arns M, Tendolkar I, van Eijndhoven P
  [抗うつ薬無反応者に対する次のステップとしてのrTMS：現在の抗うつ薬治療アプローチとの無作為化化比較] [med. app.]
  Am J Psychiatry 181 (9): 806-814
• 2024, Long T, Jiang C, Yuan Q, Sang W, Luo X, Li L
  [医療インプラントのスケール化伝達関数測定のための並進励起戦略] [dev./impl.]
  IEEE Trans Instrum Meas 73: 6007910
• 2024, Gryz K, Karpowicz J, Zradziński P
  [電磁界ばく露の（準）自律的評価におけるデータロガーのバンド外感度から生じる課題と機会] [tech./dosim.]
  2024 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Rome, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350370546
• 2024, Luo J, Benjamin P, Gerhards L, Hogben HJ, Hore PJ
  [地磁気が存在しない状態での高周波電磁界における鳥類の定位：磁気受容のラジカルペアメカニズムの可能な検証] [tech./dosim.]
  J R Soc Interface 21 (217): 20240133
• 2024, Manikandan M, Femina V, Vetrimanikumar J, Vijayakumar SD, Karthi V, Kumar V
  [ウェアラブルアンテナに採用された繊維基材の性能分析：レビュー] [review]
  2024 International Conference on Advancements in Power, Communication and Intelligent Systems (APCI), Kannur, India. IEEE: pp. 1-8; ISBN 9798350363296
• 2024, Pasquino N, Solmonte N, Djuric N, Kljajic D, Djuric S
  [時間変動を分析するためのRF電磁界モニタリングデータのモデルベースクラスタリング] [tech./dosim.]
  2024 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Rome, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350370546