EMF-Portal | 文献検索結果

2014, Novikov VV, Sheĭman IM, Iablokova EV, Fesenko EE

[甲虫チャイロゴミムシダマシの幼虫の変態段階に対する弱い組み合わせ磁界の修飾効果［ロシア語］] [foreign-language]

Biofizika 59 (6): 1157-1160

2014, Nowell M, Miserocchi A, McEvoy AW, Duncan JS

[詳細] [てんかんの手術における進歩] [review]

J Neurol Neurosurg Psychiatry 85 (11): 1273-1279

2014, El-Bediwi AB, El-Fallal A, Saker S, Ozcan M

[歯科用合金および金属-セラミック接着剤の物理特性に対する磁気共鳴画像装置の非電離無線周波信号の影響] [dev./impl.]

J Adhes Dent 16 (5): 407-413

2014, Chakaravarthi G, Arunachalam K

[がんのハイパサーミア治療用の小型マイクロ波パッチアプリケータ] [tech./dosim.]

2014 36th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, Chicago, IL, USA. IEEE: pp. 5320-5322; ISBN 978-1-4244-7929-0

2014, Mattei E, Censi F, Mancini M, Napolitano A, Genovese E, Cannata V, Burriesci G, Falsaperla R, Calcagnini G

[MRI室内での速い動きにより誘導される電流は植え込みペースメーカに抑制を引き起こす可能性がある] [dev./impl.]

2014 36th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, Chicago, IL, USA. IEEE: pp. 890-893; ISBN 978-1-4244-7929-0

2014, Laakso I, Hirata A, Fujiwara O

[電気自動車の無線式充電に関する数値計算ドシメトリ] [tech./dosim.]

2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 202-205; ISBN 978-4-88552-287-1

2014, Nagaoka T, Watanabe S, Niwa T

[さまざまな妊娠段階にある妊婦の数値モデル化とドシメトリ] [tech./dosim.]

2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 190-193; ISBN 978-4-88552-287-1

2014, Cabot E, Zastrow E, Kuster N

[MRIばく露下のAIMDに関する安全性の評価：局所的RF誘導加熱に関するティアレベル3と4の仕様での評価の比較] [dev./impl.]

2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 237-240; ISBN 978-4-88552-287-1

2014, Laakso I, Shimamoto T, Hirata A, Feliziani M

[無線電力伝送のばく露評価への準静的近似の適用可能性] [tech./dosim.]

2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 430-433; ISBN 978-4-88552-287-1

2014, Iwamoto T, Arima T, Uno T, Iwamoto T, Wake K, Fujii K, Watanabe S

[人体ばく露評価を目的とした無線電力伝送システム近傍の電磁界の測定] [tech./dosim.]

2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 529-532; ISBN 978-4-88552-287-1