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8635件の論文が見つかりました。

キーワード: 健康, Gesundheit, health

• 2018, Hojo S, Mizukoshi A, Azuma K, Okumura J, Ishikawa S, Miyata M, Mizuki M, Ogura H, Sakabe K
  [多種化学物質過敏症の日本人患者の過去10年間における自覚症状、発症／誘発因子、アレルギー疾患、化学物質ばく露の変化についての調査] [med./bio.]
  Int J Hyg Environ Health 221 (8): 1085-1096
• 2018, Hirtl R, Bodewein L, Schmiedchen K, Dechent D, Stunder D, Gräfrath D, Winter L, Kraus T, Driessen S, Schmid G
  [詳細] [中間周波領域の新規技術の電磁界へのばく露とその影響‐系統的レビュー‐プロジェクト3616S82437] [info]
  Federal Office for Radiation Protection (BfS), Ressortforschungsberichte zur kerntechnischen Sicherheit und zum Strahlenschutz, BfS-RESFOR-139/18: 1-198
• 2018, Martens AL, Slottje P, Smid T, Kromhout H, Vermeulen RCH, Timmermans DRM
  [携帯電話基地局、ラジオ／TV放送局のリスク評価と非特異的症状との縦断的関連性] [epidem.]
  J Psychosom Res 112: 81-89
• 2018, Sudan M, Birks LE, Aurrekoetxea JJ, Ferrero A, Gallastegi M, Guxens M, Ha M, Lim H, Olsen J, González-Safont L, Vrijheid M, Kheifets L
  [3つの出生コホートにおける妊娠中の母親の携帯電話使用と子どもの5歳の時点での認知] [epidem.]
  Environ Int 120: 155-162
• 2018, Hori T, Nedachi T, Suzuki H, Harakawa S
  [詳細] [マウスの血漿グルココルチコイドのレベルのストレスによる増加に対する超低周波電界の抑制作用の特徴付け] [med./bio.]
  Bioelectromagnetics 39 (7): 516-528
• 2018, Oza CS, Brocker DT, Behrend CE, Grill WM
  [パターン化低周波深部脳刺激は健康なラットに運動障害を生じ、皮質‐基底核神経活動を変調させる] [med. app.]
  J Neurophysiol 120 (5): 2410-2422
• 2018, Ready FL, Gebremedhem YD, Worku M, Mehta K, Eshte M, GoldenMerry YL, Nwariaku FE, Wolf SE, Phelan HA
  [エチオピアにおける2001-2016年の熱傷の疫学的シフト：公衆衛生対策上の意味合い] [elec. inj.]
  Burns 44 (7): 1839-1843
• 2018, DastAmooz S, Tahmasebi Broujeni S, Shahbazi M, Vali Y
  [妊娠中の電磁界ばく露の悪影響を低減するための一つの選択肢としての身体活動] [med./bio.]
  Int J Dev Neurosci 71: 10-17
• 2018, Raquib MA, Hossain MS
  [エンジニアリングワークショップ用の三軸テスラメーターを用いた電磁界放射の測定及び分析] [tech./dosim.]
  2017 2nd International Conference on Electrical & Electronic Engineering (ICEEE), Rajshahi, Bangladesh. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-5386-3342-7
• 2018, Fayed IM, El-Din ES
  Safety Distance Calculations for Macrocell Mobile Base Station and on Site Radiation Measurements [tech./dosim.]
  2017 European Conference on Electrical Engineering and Computer Science (EECS), Bern. IEEE: pp. 449-453; ISBN 978-1-5386-2086-1