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238件の論文が見つかりました。

キーワード: "electrical engineering", Elektrotechnik, 電気工学

• 2022, Laissaoui AM, Mezouad S, Nekhoul B
  [RF放射にばく露されたヒト頭部におけるSAR評価] [tech./dosim.]
  2022 2nd International Conference on Advanced Electrical Engineering (ICAEE), Constantine, Algeria. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-1742-6
• 2022, Gombarska D, Psenakova Z, Gajdosova A
  [現実的なヒト頭部ファントムの数値モデル] [tech./dosim.]
  2022 23rd International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Zuberec, Slovakia. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350396263
• 2022, Judáková Z, Janoušek L, Čarnecká L, Švantnerová I
  [評価ツールとしての電気伝導度測定] [tech./dosim.]
  2022 23rd International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Zuberec, Slovakia. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350396263
• 2022, Bacova F, Benova M
  [遮へい領域内での電磁界への子どもおよび成人の胸部に対するばく露モデリング] [tech./dosim.]
  2022 23rd International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Zuberec, Slovakia. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350396263
• 2022, Bajtos M, Radil R, Janoušek L, Hargasova K, Student S, Kocikowska O
  [生物学的実験のためのイオンパラメトリック共鳴条件の数値的調整] [tech./dosim.]
  2022 23rd International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Zuberec, Slovakia. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350396263
• 2022, Yamaguchi-Sekino S, Iwakiri K, Sekino M, Nakai T
  [重心動揺に対する磁界ばく露の影響の評価] [med./bio.]
  IEEJ Trans Electr Electron Eng 17 (7): 981-985
• 2022, Li J, Lu M
  [地下鉄の駅ホームに立っている成人および子どもの乗客に対する電磁界ばく露の安全性評価] [tech./dosim.]
  Arch Electr Eng 71 (3): 755-773
• 2022, Velásquez RMA
  [ミリ波の有限要素モデリングおよびペルーにおける5G技術の課題] [tech./dosim.]
  2022 IEEE XXIX International Conference on Electronics, Electrical Engineering and Computing (INTERCON), Lima, Peru. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-6654-8637-8
• 2022, Kaya AI, Cifci A, Kirdiogullari F, Kahriman M, Cerezci O
  [ホウ酸を配合した古紙複合材料で構成された電磁吸収体の設計と製造] [tech./dosim.]
  Turk J Elec Eng & Comp Sci 30 (3): 839-854, article ID 23
• 2021, Sakaci FH, Cerezci O
  Prediction of Magnetic Pollution with Artificial Neural Network in Living Areas [tech./dosim.]
  J Electr Eng Technol 16 (5): 2701-2708