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940件の論文が見つかりました。

キーワード: "Elektrische Feldstärke", "electric field strength", 電界強度

• 2024, Mou W, Lu M
  [電気自動車のコンパクトワイヤレス充電ステーションに対する電磁界ばく露の安全性評価] [tech./dosim.]
  Journal of the Chinese Institute of Engineers 47 (7): 780-794
• 2024, Karpowicz J, Miclaus S
  [狭帯域データロガーを用いたモバイル無線通信放射による電磁界ばく露の時間変動モニタリング] [tech./dosim.]
  2024 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Rome, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350370546
• 2024, Temperini ME, Polito R, Venanzi T, Baldassarre L, Hu H, Ciracì C, Pea M, Notargiacomo A, Mattioli F, Ortolani M, Giliberti V
  [電界誘起分子動態の研究のための赤外ナノ分光法技術] [tech./dosim.]
  Nano Lett 24 (32): 9808-9815
• 2024, Schmid G, Schneeweiss P, Hirtl R, Jhala T, Samaras T
  [低周波磁界にばく露された際の一般的に用いられる金属インプラントを有する作業者の手に誘導される電界の数値評価] [dev./impl.]
  J Radiol Prot 44 (3): 031507
• 2024, Nissi J, Kangasmaa O, Kataja J, Bouisset N, Laakso I
  [周波数および振幅変調電流を用いた電気前庭刺激のイン・ビトロおよびドシメトリ調査] [med./bio.]
  J Neural Eng 21 (4): 046038
• 2024, Ahtiainen A, Leydolph L, Tanskanen JMA, Hunold A, Haueisen J, Hyttinen JAK
  [イン・ビトロでのニューロンの電界時間干渉刺激] [med./bio.]
  Lab Chip 24 (16): 3945-3957
• 2024, Dong X, Qian Y, Lu M
  [電気自動車の駆動モーターからの心臓ペースメーカーを装着した乗員への電磁界ばく露レベル] [dev./impl.]
  Sensors 24 (13): 4395
• 2024, Tamaki A, Uenishi S, Yamada S, Yasuda K, Ikeda N, Tabata M, Kita A, Mizutani-Tiebel Y, Keeser D, Padberg F, Tsuji T, Kimoto S, Takahashi S
  Female sex and age-based advantage of simulated electric field in TMS to the prefrontal cortex in schizophrenia and mood disorders [tech./dosim.]
  Psychiatry Res Neuroimaging 342: 111844
• 2024, Zhang X, Yang J, Qi L, Zhou W, Zhu Y, Li Z, Chen F, Guan C
  Evaluation of electrokinetic-assisted phytoremediation efficiency of dibutyl phthalate contaminated soil by maize (Zea mays L.) under different electric field intensities [med./bio.]
  Sci Total Environ 944: 173838
• 2024, Tefera TN, Punekar GS, Ibrahim Yassin K, Berhanu Tuka M
  Comparative Analysis of 500 kV Double-Circuit Transmission Line Electric Field Intensity: Ethiopian Lines Compliance with ICNIRP [tech./dosim.]
  IEEE Access 12: 76359-76366