この研究は、ナノ秒パルス化電界（nsPEF）へのばく露の後に、細胞の自食作用が活性化されるか否かを調べた。その結果、毒性水準以下の強度のnsPEFで自食作用が活性化され、これは膜損傷を修復するための代償メカニズムと考えられる;ばく露時間が長くなると、細胞死が増加し、それと同時に自食作用マーカも減少した、と報告している。
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