この研究は、パルス化磁界（1.5mT、25Hz）への長期ばく露（1日8時間、16日間）がインビトロでDNA分子を損傷させることによる遺伝毒性をもつか否かを調べた。出芽酵母から抽出したイースト菌ゲノムDNAおよびDNA分子量マーカHL-Iを所定の磁界にばく露した。その結果、イースト菌ゲノムDNAの全DNA量（損傷なしのDNAおよび損傷されたDNA）は磁界ばく露中に減少した；ばく露16日目で、DNA量は41±8.1%になった；損傷なしのDNA量は、無ばく露対照群で6.2±3.1%、ばく露群で0.3±0.1%になった；一方、DNA分子量マーカHL-Iでは、ばく露による変化は観察されなかった、と報告している。
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