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キーワード: und

• 2024, Rodriguez-Franco O, Zreiqat M, Wachter JK, Janicak C
  Fatalities in electrical occupations, unionization, and associated factors [elec. inj.]
  J Safety Res 91: 283-293
• 2024, Orzada S, Fiedler TM, Ladd ME
  Hybrid algorithms for SAR matrix compression and the impact of post-processing on SAR calculation complexity [tech./dosim.]
  Magn Reson Med 92 (6): 2696-2706
• 2024
  [WBF専門家フォーラム2024] [info]
  Wissenschaftlicher Beirat Funk (WBF), 1-5
• 2024, Petzold J, Schmitter S, Silemek B, Winter L, Speck O, Ittermann B, Seifert F
  [0.5 T、1.5 T、3 T並列伝送心臓画像撮影のための代替RF電力制限制御方法の調査：シミュレーション研究] [tech./dosim.]
  Magn Reson Med 91 (4): 1659-1675
• 2024, Tao X, Jing ZW, Yuan WK, Yun GH, Fang XJ, Sheng LM
  [治療抵抗性うつ病に対する反復経頭蓋磁気刺激とシータバースト刺激の有効性と安全性を比較したメタ分析] [review]
  Front Psychiatry 15: 1504727
• 2024, Sangal S, Verma A, Patil S
  [バイオメディカルアンテナのさまざまな設計と技術に関する研究] [basics]
  2024 13th International Conference on System Modeling & Advancement in Research Trends (SMART), Moradabad, India. IEEE: pp. 418-423; ISBN 9798350380590
• 2024, Qamar M, Kapusuz KY, Thaha MA, Alomainy A
  [放射パターンと偏波ダイバーシティを備えたカメラ統合型MIMOアンテナ] [tech./dosim.]
  2024 21st International Bhurban Conference on Applied Sciences and Technology (IBCAST), Murree, Pakistan. IEEE: pp. 423-426; ISBN 9798331516697
• 2024, Arivarsi A, Kumar A, Misra A
  [5G電磁界、電磁障害測定、健康への影響、遮蔽材料に関する調査] [basics]
  2024 International Conference on Modeling, Simulation & Intelligent Computing (MoSICom), Dubai, United Arab Emirates. IEEE: pp. 57-62; ISBN 9798331533328
• 2024, Akter MK, Guo R, Islam MZ, Zheng J, Chen J
  [1.5 T MRI下における脳深部刺激法および発作反応型脳刺激療法デバイスのRF誘導加熱に関する予備的研究] [dev./impl.]
  2024 IEEE International Symposium on Antennas and Propagation and INC/USNC‐URSI Radio Science Meeting (AP-S/INC-USNC-URSI), Firenze, Italy. IEEE: pp. 2655-2656; ISBN 9798350369915
• 2024, Hasan NI, Dannhauer M, Wang D, Deng ZD, Gomez LJ
  [神経ナビゲーションと最適化のための経頭蓋磁気刺激における電界のリアルタイム計算] [tech./dosim.]
  2024 IEEE 1st Latin American Conference on Antennas and Propagation (LACAP), Cartagena de Indias, Colombia. IEEE: pp. 1-2; ISBN 9798331527594