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キーワード: und

• 2018, Ichikawa N
  [日本における2012-2014年の電気的死亡率及び感電死の疫学] [elec. inj.]
  2018 IEEE IAS Electrical Safety Workshop (ESW), Fort Worth, TX, USA. IEEE: pp. 1-8; ISBN 978-1-5386-1560-7
• 2018, Song B, Timoshkin I, Maclean M, Wilson M, Given M, MacGregor SJ, Satoh K, Kawaguchi H
  [電界ストレスを与えた微生物の膜を横切る局所加熱及びストレス] [tech./dosim.]
  2017 IEEE 21st International Conference on Pulsed Power (PPC), Brighton, UK. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-5090-5749-8
• 2018, Sadashivaiah V, Sacré P, Guan Y, Anderson WS, Sarma SV
  [哺乳類の神経線維における刺激と生理学的に誘導したAPとの相互作用のモデリング：周波数及び線維直径への依存度] [tech./dosim.]
  J Comput Neurosci 45 (3): 193-206
• 2018, Cai L, Yang Z, Wang M, Zheng H, Wang X, Liu J
  [電子カプセル内視鏡用の広帯域アンテナの設計及びSARの比較] [tech./dosim.]
  2017 Sixth Asia-Pacific Conference on Antennas and Propagation (APCAP), Xi'an, China. IEEE: pp. 1-3; ISBN 978-1-5386-1609-3
• 2018, Du X, Ma X, Li L, Li H, Cheng X, Hwang JCM
  [同じベクトルネットワークアナライザーを用いた生きた生体細胞の超高帯域の特徴付け、電気穿孔、誘電泳動] [tech./dosim.]
  2018 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS, Philadelphia, PA, USA. IEEE: pp. 1148-1151; ISBN 978-1-5386-5068-4
• 2018, Marrella A, Iafisco M, Adamiano A, Rossi S, Aiello M, Barandalla-Sobrados M, Carullo P, Miragoli M, Tampieri A, Scaglione S, Catalucci D
  [超常磁性リン酸カルシウムナノ粒子からの制御された薬物放出用の低周波電磁界と流体刺激の併用：心血管疾患への潜在的応用] [med./bio.]
  J R Soc Interface 15 (144): 20180236
• 2018, Jiang H, Brazis PW
  [DC人体抵抗の実験その1：機器、セットアップ、接触材料] [med./bio.]
  2018 IEEE Symposium on Product Compliance Engineering (ISPCE), San Jose, CA, USA. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-5386-3433-2
• 2018, Anketell J, Wilson FC, McCann J
  [雷撃と稲妻：落雷後の院外心停止後の生存及び神経リハビリテーション] [elec. inj.]
  Brain Inj 32 (12): 1585-1587
• 2018, McDermott B, Porter E, Hughes D, McGinley B, Lang M, O'Halloran M, Jones M
  [詳細] [ヒトにおけるガンマ帯神経刺激ならびにアルツハイマー病の予防と治療のためのその新たなモダリティの期待] [review]
  J Alzheimers Dis 65 (2): 363-392
• 2018, Ali IH, Hamd HI, Abdalla AI
  [ワイヤレス応用におけるSAR計算用の2種類のアンテナのデザイン及び比較] [tech./dosim.]
  2018 Advances in Science and Engineering Technology International Conferences (ASET), Dubai, Sharjah, Abu Dhabi, United Arab Emirates. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-1-5386-2400-5