文献検索結果

5484件の論文が見つかりました。

キーワード: transcranial, transkraniell, 経頭蓋

• 2021, Funk RHW, Fähnle M
  [神経疾患に対する磁界の影響力についての簡単なレビュー] [basics]
  Front Biosci (Schol Ed) 13 (2): 181-189
• 2021, Wendt K, Sorkhabi MM, O'Shea J, Cagnan H, Denison T
  [パルス幅変調と従来のTMS刺激に対する一次運動野ニューロンのモデル化された応答の比較] [tech./dosim.]
  2021 43rd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Mexico. IEEE: pp. 6058-6061; ISBN 978-1-7281-1179-7
• 2021, Freedberg MV, Reeves JA, Fioriti CM, Murillo J, Wassermann EM
  [海馬ネットワークを標的とした経頭蓋磁気刺激がエピソード記憶に及ぼす影響の再現] [med. app.]
  Behav Brain Res 419: 113707
• 2021, Torres-Castaño A, Rivero-Santana A, Perestelo-Pérez L, Duarte-Díaz A, Toledo-Chávarri A, Ramos-García V, Álvarez-Pérez Y, Cudeiro-Mazaira J, Padrón-González I, Serrano-Pérez P
  [コカイン依存症の治療のための経頭蓋磁気刺激：系統的レビュー] [review]
  J Clin Med 10 (23): 5595
• 2021, Jia T, Mo L, Li C, Liu A, Li Z, Ji L
  [5 Hz rTMSは運動イメージベースのBCI分類パフォーマンスを向上させる] [med. app.]
  2021 43rd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Mexico. IEEE: pp. 6116-6120; ISBN 978-1-7281-1179-7
• 2021, Mathews C
  [強迫性障害] [basics]
  Continuum 27 (6): 1764-1784
• 2021, Daneshzand M, Makarov SN, de Lara LIN, Nummenmaa A
  [計算TMSニューロナビゲーションのための高速個別化高分解能電界モデリング] [tech./dosim.]
  2021 43rd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Mexico. IEEE: pp. 1301-1304; ISBN 978-1-7281-1179-7
• 2021, Evers S, Summ O
  [慢性群発頭痛における神経刺激治療‐ナラティブレビュー] [basics]
  Curr Pain Headache Rep 25 (12): 81
• 2021, Afuwape OF, Runge J, Bentil SA, Jiles DC
  [ブタモデルの経頭蓋磁気刺激のためのコイル設計の比較] [tech./dosim.]
  2021 43rd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Mexico. IEEE: pp. 1535-1538; ISBN 978-1-7281-1179-7
• 2021, Jiang W, Isenhart R, Kistler N, Lu Z, Xu H, Lee DJ, Liu CY, Song D
  [低強度の反復的経頭蓋磁気刺激はラット皮質における自発的スパイク活動を調節する] [med. app.]
  2021 43rd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Mexico. IEEE: pp. 6318-6321; ISBN 978-1-7281-1179-7