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7183件の論文が見つかりました。

キーワード: tissue, Gewebe, 組織

• 2018, Walston ST, Chow RH, Weiland JD
  [マウス網膜の全組織標本における電気刺激に対する双極性細胞応答の直接測定] [med./bio.]
  J Neural Eng 15 (4): 046003
• 2018, Daish C, Blanchard R, Duchi S, Onofrillo C, Augustine C, Fox K, Pivonka P, Pirogova E
  [骨折治療用のパルス化電磁界デバイスのデザイン、製造及び検証] [med./bio.]
  2018 40th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC), Honolulu, HI, USA. IEEE: pp. 4166-4169; ISBN 978-1-5386-3647-3
• 2018, Özgün A, Garipcan B
  [幹細胞に対する超低周波電磁界の影響は亜鉛イオンによっては生じない] [med./bio.]
  2018 EMF-Med 1st World Conference on Biomedical Applications of Electromagnetic Fields (EMF-Med), Split, Croatia. IEEE: pp. 1-2; ISBN 978-1-5386-5922-9
• 2018, Ates K, Carlak HF
  [GSM 850 MHz帯の携帯電話使用によるヒト頭部モデルのドシメトリ分析] [tech./dosim.]
  2017 International Conference on Engineering and Technology (ICET), Antalya, Turkey. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-1-5386-1950-6
• 2018, Brodic D, Draganov IR
  [ポータブルコンピュータから生じる低周波磁界への自己組織化マップ分類の応用] [tech./dosim.]
  2017 3rd International Conference on Applied and Theoretical Computing and Communication Technology (iCATccT), Tumkur, India. IEEE: pp. 322-327; ISBN 978-1-5386-1145-6
• 2018, Kozlov M, Kainz W
  [同軸リード線のRF誘導加熱の評価のためのリード線電磁モデル：128 MHzでの数値計算ケーススタディ] [dev./impl.]
  IEEE J Electromagn RF Microw Med Biol 2 (4): 286 - 293
• 2018, Ryan HA, Hirakawa S, Yang E, Zhou C, Xiao S
  [細胞応答の変調のための高電圧、多層、ナノ秒パルス] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Biomed Circuits Syst 12 (2): 338 - 350
• 2018, Schwartz S, Thompson GL
  [椎間板組織の非熱的電気穿孔を予測する] [tech./dosim.]
  2018 IEEE International Microwave Biomedical Conference (IMBioC), Philadelphia, PA, USA. IEEE: pp. 184-186; ISBN 978-1-5386-5919-9
• 2018, Sen R, Sarkar AK, Mandal AK, Paul LC
  [密閉金属チャンバー内部で測定したRF放射による生物学的組織に対する電磁吸収の分析] [tech./dosim.]
  2018 International Conference on Innovation in Engineering and Technology (ICIET), Dhaka, Bangladesh. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-1-5386-5230-5
• 2018, Ali IH, Hamd HI, Abdalla AI
  [ワイヤレス応用におけるSAR計算用の2種類のアンテナのデザイン及び比較] [tech./dosim.]
  2018 Advances in Science and Engineering Technology International Conferences (ASET), Dubai, Sharjah, Abu Dhabi, United Arab Emirates. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-1-5386-2400-5