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キーワード: t-検定, t-Test, "Student's t-test", スチューデントt-検定

• 2023, Markus I, Ohayon E, Constantini K, Geva-Kleinberger K, Ibrahim R, Ruban A, Gepner Y
  [トレーニングを受けたアスリートの炎症およびパフォーマンス関連指標に対する超低周波電磁界の効果：二重盲検クロスオーバー研究] [med./bio.]
  Int J Mol Sci 24 (17): 13463
• 2023, Vivarelli C, Censi F, Calcagnini G, De Ruvo E, Calò L, Mattei E
  [5Gサービスとペースメーカー／植込み型除細動器：実際のリスクは何か？] [dev./impl.]
  Int J Environ Res Public Health 20 (5): 4512
• 2023, Huber P, Mohanty P, Jenau F
  [高圧直流架空送電線のコロナ放電開始勾配を決定するための革新的な数値手法] [tech./dosim.]
  2023 IEEE Electrical Insulation Conference (EIC), Quebec City, QC, Canada. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-6654-9342-0
• 2023, Zhang L, Malkemper EP
  [哺乳類のクリプトクロム：磁気受容に関する誤解？] [basics]
  Front Physiol 14: 1250798
• 2023, Ejaz A, Jabeen I, Khan ZU, Alomainy A, Aljaloud K, Alqahtani AH, Hussain N, Hussain R, Amin Y
  [リストバンド用途向けの高性能全テキスタイルウェアラブルアンテナ] [tech./dosim.]
  Micromachines 14 (6): 1169
• 2023, Mayer Y, Khoury J, Horwitz J, Ginesin O, Canullo L, Gabay E, Giladi HZ
  [集束パルス電磁界を用いたインプラント周囲炎の新しい非外科治療：パイロット無作為化二重盲検対照臨床試験] [med. app.]
  Bioelectromagnetics 44 (7-8): 144-155
• 2023, Cordelli E, Ardoino L, Benassi B, Consales C, Eleuteri P, Marino C, Sciortino M, Villani P, Brinkworth MH, Chen G, McNamee JP, Wood AW, Belackova L, Verbeek J, Pacchierotti F
  [妊娠および出生アウトカムに対する高周波電磁界ばく露の影響：ヒト以外の哺乳類についての実験研究の系統的レビュー] [review]
  Environ Int 180: 108178
• 2023, Horváth P, Pávó J, Badics Z, Horváth BP
  [近傍界摂動による測定値とシミュレーションによる1ポート量の比較によるワイヤレスデバイスの計算モデルの検証] [tech./dosim.]
  2023 Photonics & Electromagnetics Research Symposium (PIERS), Prague, Czech Republic. IEEE: pp. 1914-1920; ISBN 9798350312850
• 2023, Hwata C, Rushingabigwi G, Gatera O, Twizere C, Mukanyiligira D, Thomas BN
  [ファジーニューラルネットワークを用いた病院設備の電磁障害のリスクの予測] [tech./dosim.]
  2023 Photonics & Electromagnetics Research Symposium (PIERS), Prague, Czech Republic. IEEE: pp. 1389-1396; ISBN 9798350312850
• 2023, Ghosh D, Nandi A, Chakraborty U
  [ウェアラブルアプリケーション用ポリマーベースの超広帯域アンテナ] [tech./dosim.]
  2023 Photonics & Electromagnetics Research Symposium (PIERS), Prague, Czech Republic. IEEE: pp. 1368-1374; ISBN 9798350312850