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キーワード: power, Leistung, 仕事率

• 2024, Stroka S, Kasolis F, Haußmann N, Clemens M
  [最大エントロピー・スナップショットサンプリングによる効率的な低周波人体ばく露評価] [tech./dosim.]
  2024 IEEE 21st Biennial Conference on Electromagnetic Field Computation (CEFC), Jeju, Republic of Korea. IEEE: pp. 1-2; ISBN 9798350348965
• 2024, Sato T, Katagiri N, Suganuma S, Laakso I, Tanabe S, Osu R, Tanaka S, Yamaguchi T
  [M1およびSMAの両方を刺激するためのtDCS電極配置のシミュレーションは、電流の流れの方向に応じて運動機能を向上させ、皮質興奮性を調節する] [med. app.]
  Front Neurosci 18: 1362607
• 2024, Kranold L, Jingtian X, Goren T, Kuster N
  [インプラントを持つ人々：電磁界ばく露規制で見過ごされている集団か？] [dev./impl.]
  2024 IEEE MTT-S International Microwave Biomedical Conference (IMBioC), Montreal, QC, Canada. IEEE, Kanada: pp. 119-121; ISBN 9798350351064
• 2024, Foote A, Costinett D, Kusch R, Mohammad M, Onar O
  [遮へいされた120 kW誘導ワイヤレスシステムのフーリエ解析と設計] [tech./dosim.]
  IEEE Transactions on Power Electronics 39 (11): 15295-15314
• 2024, Kuster N, Chitnis N, Karimi F, Christ A, Kühn S
  [吸収電力密度の評価] [tech./dosim.]
  2024 IEEE MTT-S International Microwave Biomedical Conference (IMBioC), Montreal, QC, Canada. IEEE, Kanada: pp. 111-112; ISBN 9798350351064
• 2024, Fonseca J, Garza J, García M, Aguirre K, Alotaibi H, Mortada H
  [電気熱傷による声帯損傷：症例報告と文献レビューからの洞察] [elec. inj.]
  Case Reports Plast Surg Hand Surg 11 (1): 2374549
• 2024, Krzystolik J, Tański A, Piesiewicz R, Formicki K
  [高電圧送電線によって生じる電磁界がキタカワカマス（Esox Lucius Linnaeus 1758）の胚の空間配置に及ぼす影響] [med./bio.]
  Environ Sci Pollut Res 31 (34): 47291-47297
• 2024, Ali R, Cho Y, Shah IA, Shahzeb H, Basir A, Yoo H
  [高データレート皮質視覚プロテーゼ用途のためのコンパクトなデュアルバンドMIMO植込み型アンテナシステム] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Antennas Propag 72 (8): 6374-6386
• 2024, Angels NL, Elsherbeni AZ
  [ワイヤレス脳インプラントの安全性に関するレビュー] [basics]
  2024 International Applied Computational Electromagnetics Society Symposium (ACES), Orlando, FL, USA. IEEE, Florida: pp. 1-2; ISBN 9798350362978
• 2024, Hou Z, Teng S, Dang W, Yun X, Ju Z, You Y, Cai Z
  [三分割磁心に基づく10 kVケーブル周囲の磁界測定に関する研究] [tech./dosim.]
  2024 7th International Conference on Energy, Electrical and Power Engineering (CEEPE), Yangzhou, China. 7巻; IEEE, China: pp. 1101-1106; ISBN 9798350375800