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キーワード: neural, 神経の

• 2021, Vamsy A, Lakshmi VS, Venkatachalam TSP
  [Wistarラットの肝臓に対する携帯電話から発せられる4G LTE放射への長期ばく露の組織学的および生化学的影響] [med./bio.]
  Asian J Pharm Res Health Care 13 (2): 132-138
• 2021, Christopher B, Mary SY, Khandaker MU, Jojo PJ
  [4G携帯電話放射の誘導加熱による頭部組織の比吸収率についての実証研究] [tech./dosim.]
  Radiat Phys Chem 178: 108910
• 2021, Yang C, Schierholz M, Trunczik E, Helmich LM, Brüns HD, Schuster C
  [ミリメートルスケールのヒト脳インプラントの効率的で柔軟なホイヘンス波源の交換] [dev./impl.]
  2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium, Raleigh, NC, USA. IEEE: pp. 697-702; ISBN 978-1-6654-4889-5
• 2021, Moraveji M, Keshvari H, Karkhaneh A, Bonakdar S, Hadi A, Haghighipour N
  The effect of collagen/polycaprolactone fibrous scaffold decorated with graphene nanoplatelet and low-frequency electromagnetic field on neuronal gene expression by stem cells [med./bio.]
  Adv Nano Res 10 (6): 535-543
• 2021, Hlavac N, Bousalis D, Ahmad RN, Pallack E, Vela A, Li Y, Mobini S, Patrick E, Schmidt CE
  [低レベル電界に対する脂肪由来幹細胞の応答に対する様々な刺激パラメータの影響] [med./bio.]
  Ann Biomed Eng 49 (12): 3401-3411
• 2021, Sorgucu U, Develi I
  [ソフトコンピューティング法を用いた900 MHzの周波数で調整された組織等価液体の電気的値の決定] [tech./dosim.]
  2021 IEEE International Conference on Electronics, Computing and Communication Technologies (CONECCT), Bangalore, India. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-2850-7
• 2021, Deblieck C, Smeijers S, Morlion B, Datta A, Thomas C, Theys T
  [症例報告：神経因性疼痛および移植された脊髄刺激装置を有する患者における高精細経頭蓋直流刺激の安全性および有効性の最初の証拠] [dev./impl.]
  Front Pain Res 2: 753464
• 2021, Xu J, Lopez AJ, Hoque MM, Borich MR, Kesar TM
  [脊髄興奮性の下降皮質調節の時間的プロファイル：グループおよび個人特有の効果] [med. app.]
  Front Integr Neurosci 15: 777741
• 2021, Li D, Hu Y, Wei H, Chen W, Liu Y, Yan X, Guo L, Liao M, Chen B, Chai R, Tang M
  [超常磁性酸化鉄ナノ粒子と静磁界は神経幹細胞の増殖を調節する] [med./bio.]
  Front Cell Neurosci 15: 815280
• 2021, Chang J, Lan Q, Guo R, Zheng J, Chen J, Kainz W
  [ニューラルネットワークを用いた能動的植込み型医療機器の電磁モデルの予測] [tech./dosim.]
  2021 IEEE International Symposium on Antennas and Propagation and USNC-URSI Radio Science Meeting (APS/URSI), Singapore. IEEE: pp. 1495-1496; ISBN 978-1-7281-4671-3