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キーワード: frequency, Frequenz, 頻度、周波数

• 2023, Violante IR, Alania K, Cassarà AM, Neufeld E, Acerbo E, Carron R, Williamson A, Kurtin DL, Rhodes E, Hampshire A, Kuster N, Boyden ES, Pascual-Leone A, Grossman N
  [ヒト海馬の非侵襲的な時間干渉電気刺激] [med. app.]
  Nat Neurosci 26 (11): 1994-2004
• 2023, Bačová F, Beňová M
  [鉄道客車の遮へい空間内での子どもおよび成人の10 gおよび1 gの比吸収率の比較] [tech./dosim.]
  2023 24th International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Grybów, Poland. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350330359
• 2023, Baginska U, Moro A, Toonen RF, Verhage M
  [海馬ニューロンにおける最大融合能力と高密度コア小胞プールの効率的な補充] [med./bio.]
  J Neurosci 43 (45): 7616-7625
• 2023, Govindan T, Palaniswamy SK, Kanagasabai M, Kumar S, Agarwal R, Kumar R, Panigrahy D
  [畜産用ワイヤレスカプセル内視鏡用のコンフォーマルMIMO摂取型ボーラスセンサーアンテナの設計および解析] [tech./dosim.]
  IEEE Sens J 23 (22): 28150-28158
• 2023, Gombarska D, Smetana M, Psenakova Z, Boleckova S
  [男性の泌尿生殖系と高周波電磁界との相互作用のモデリングおよびシミュレーション] [tech./dosim.]
  2023 24th International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Grybów, Poland. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350330359
• 2023, Prentice A, Barreiros AR, van der Vinne N, Stuiver S, van Dijk H, van Waarde JA, Korgaonkar M, Sack AT, Arns M
  [吻側前帯状皮質の振動パワーは大うつ病性障害における複数の治療法に対する治療抵抗性の指標となる] [med. app.]
  Neuropsychobiology 82 (6): 373-383
• 2023, Tamura M, Kawamoto T, Ishifuro M, Tamura T, Masumoto Y, Kenjo M, Kiguchi M, Awai K, Nagata Y
  [誤用された個人用ドシメータの同定のためのRFIDゲートシステム] [tech./dosim.]
  J Med Syst 47 (1): 107
• 2023, Haussmann N, Stroka S, Schmuelling B, Clemens M
  [低周波磁界サンプリングポイントを用いたグラフィック処理装置アクセラレーションによる体内電界ばく露シミュレーション] [tech./dosim.]
  Compel - Int J Comp Math Electr Electron Eng 42 (5): 982-992
• 2023, Gross D, Scandling B, Leewood AR, Simonetti OP
  [MRI中に高周波によって誘導される末梢血管ステントの加熱に対する流れの熱作用の計算モデリング] [dev./impl.]
  Biomed Phys Eng Express 9 (6): 065025
• 2023, Fang Y, Liu Y, Zhu JQ, Jia Y
  [低SARのブロードバンドモバイル通信用マルチモード統合MIMOアンテナの設計] [tech./dosim.]
  2023 International Conference on Microwave and Millimeter Wave Technology (ICMMT), Qingdao, China. IEEE: pp. 1-3; ISBN 9798350338881