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キーワード: T-Lymphozyten, T-Zellen, "T lymphocytes", "T cells", Tリンパ球, T細胞

• 2023, Demirbağ B, Aktaş S, Çömelekoğlu Ü, Kara İ, Yildirim M, Yildirim DD
  [亜慢性1800 MHz高周波放射によって誘発されるラット精巣損傷におけるパリカルシトールの保護効果] [med./bio.]
  Biochem Biophys Res Commun 680: 42-50
• 2023, Huang Z, Ito M, Zhang S, Toda T, Takeda JI, Ogi T, Ohno K
  [超低周波電磁界は熱ショックタンパク質のアセチル化を誘導し、タンパク質のフォールディングを促進する] [med./bio.]
  Ecotoxicol Environ Saf 264: 115482
• 2023, Sun C, Zhu L, Qin H, Su H, Zhang J, Wang S, Xu X, Zhao Z, Mao G, Chen J
  [ルテニウム360によるミトコンドリアカルシウム取り込みの阻害はDNA損傷に対する1800 MHz高周波電磁界の影響を強める] [med./bio.]
  Ecotoxicol Environ Saf 264: 115472
• 2023, Che VL, Zimmermann J, Zhou Y, Lu XL, van Rienen U
  [3D画像に基づく電界と軟骨組織の相互作用の自動化数値モデリングに対する深層学習の貢献] [tech./dosim.]
  Front Bioeng Biotechnol 11: 1225495
• 2023, Tüfekci KK, Kaplan AA, Kaya A, Alrafiah A, Altun G, Aktaş A, Kaplan S
  [出生前の期間に900 MHz電磁放射にばく露した雄ラットの視神経に対するメラトニンとオメガ-3の潜在的保護効果] [med./bio.]
  Int J Neurosci 133 (12): 1424-1436
• 2023, Sehati M, Rafii-Tabar H, Sasanpour P
  [外部電界にばく露した血液脳関門の内皮細胞の膜内外電位の変動の計算モデリング] [tech./dosim.]
  Biomed Phys Eng Express 9 (6): 065009
• 2023, Natale G, Colella M, De Carluccio M, Lelli D, Paffi A, Carducci F, Apollonio F, Palacios D, Viscomi MT, Liberti M, Ghiglieri V
  [星状細胞の反応はパーキンソン病ラットにおける全脳磁気刺激の局所効果に影響を及ぼす] [med. app.]
  Mov Disord 38 (12): 2173-2184
• 2023, Homami E, Goliaei B, Shariatpanahi SP, Habibi-Kelishomi Z
  [交流電界は血液がん細胞 U937（非付着細胞）における化学療法の治療効果を向上させ得る] [med./bio.]
  BMC Cancer 23: 861
• 2023, Yildiz G, Farhat I, Farrugia L, Zarb Adami K, Yilmaz T, Akduman I
  [コスト効率を高めるための接続されたFORAアレイ アンテナのグループ化：マイクロ波乳房ハイパーサーミアに関する研究] [tech./dosim.]
  2023 IEEE International Symposium on Antennas and Propagation and USNC-URSI Radio Science Meeting (USNC-URSI), Portland, OR, USA. IEEE: pp. 1263-1264; ISBN 978-1-6654-4229-9
• 2023, Ali MZ, Mfuamba Kabonzo F, Nedil M, Benmabrouk I
  [5Gウェアラブルアプリケーション用AMC搭載ミリ波CPW給電モノポール アンテナ] [tech./dosim.]
  2023 IEEE International Symposium on Antennas and Propagation and USNC-URSI Radio Science Meeting (USNC-URSI), Portland, OR, USA. IEEE: pp. 1401-1402; ISBN 978-1-6654-4229-9