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キーワード: Mensch, humans

• 2024, Dalhuisen I, van Oostrom I, Spijker J, Wijnen B, van Exel E, van Mierlo H, de Waardt D, Arns M, Tendolkar I, van Eijndhoven P
  [抗うつ薬無反応者に対する次のステップとしてのrTMS：現在の抗うつ薬治療アプローチとの無作為化化比較] [med. app.]
  Am J Psychiatry 181 (9): 806-814
• 2024, Huang G, Wang H, Zhao W, Qian Y, Yao Y, Zhang L, Chen Y, Song L, Yang J, Liu Z, Su B, Sun L
  [脳卒中における歩行、バランス、下肢運動機能に対する間欠的シータバースト刺激の効果：マルチモーダル神経画像評価を伴う二重盲検無作為化対照試験の研究プロトコル] [basics]
  BMJ Open 14 (8): e082019
• 2024, Ni R, Liu Y, Jiang J, Zhang W, Chen X, Liu J, Tang W, Wang K, Zhu C, Bu J
  [中等度強迫性障害患者の症状軽減のための連続シータバースト刺激：外部検証を伴う予備的研究] [med. app.]
  Transl Psychiatry 14: 321
• 2024, Wang CH, Shi Y, Yang DN, Chen WY, Chen WT
  [MIMO-WPTにおけるIoTデバイス選択とヘルスアウェアビームフォーミング設計] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Mob Comput 23 (9): 8822-8838
• 2024, Di Capua G, Maffucci A, Capriglione D, Di Mambro G, Femia N, Oliva N, De Guglielmo L
  [ワイヤレス電力伝送システムへの影響解析のための相互インダクタンスモデリング] [tech./dosim.]
  2024 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Rome, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350370546
• 2024, Thoradit T, Chabi M, Aguida B, Baouz S, Stierle V, Pooam M, Tousaints S, Akpovi CD, Ahmad M
  [人工的な電磁界への過敏症（EHS）は酸化ストレスに対する免疫の反応性と相関している：症例報告] [med./bio.]
  Commun Integr Biol 17 (1): 2384874
• 2024, Aksenov A, Renaud-D'Ambra M, Volpert V, Beuter A
  [位相シフトされたtACSはヒト被験者の大脳皮質アルファ波を調節できる] [med. app.]
  Cogn Neurodyn 18 (4): 1575-1592
• 2024, Pasquino N, Solmonte N, Djuric N, Kljajic D, Djuric S
  [時間変動を分析するためのRF電磁界モニタリングデータのモデルベースクラスタリング] [tech./dosim.]
  2024 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Rome, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350370546
• 2024, Miclaus S, Deaconescu DB, Vatamanu D, Buda AM
  [5G FR1における携帯電話の放射：統計的推論とディープラーニングを用いた経験的特徴抽出] [tech./dosim.]
  2024 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Rome, Italy. IEEE: pp. 01-06; ISBN 9798350370546
• 2024, Petrita T, Deaconescu DB, Miclaus S
  [5G導入を見据えた一般集団の電磁界ばく露の変遷：5年間の差異を検討した研究] [tech./dosim.]
  2024 IEEE International Symposium on Measurements & Networking (M&N), Rome, Italy. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350370546