文献検索結果

23063件の論文が見つかりました。

キーワード: Magnetfeld, MF, "magnetic field", 磁界

• 2023, Gutiérrez-Martínez J, Toledo-Peral CL, Vega-Martínez G, Mercado-Gutiérrez JA
  [リスク分析に基づく医療機器設計：一般的な考慮事項] [basics]
  2023 Global Medical Engineering Physics Exchanges/Pacific Health Care Engineering (GMEPE/PAHCE), Songdo, Korea, Republic of. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350304015
• 2023, Zhao X, Zhang L, Zhang X, Dou S, Yang J, Zheng S
  [ニアゼロ磁界細胞培養器での小型で大きな均一面積を持つバイプラナー励起磁界コイルの設計] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Instrum Meas 72: 1-10
• 2023, Budak M, Kiliç MA, Kalkan T, Tuncel H
  [50 Hz正弦波磁界がN-メチル-N-ニトロソウレア（MNU）誘発の大腸腫瘍モデルにおいてベータカテニン遺伝子のリン酸化サイトに対する変異効果はない] [med./bio.]
  Indian J Exp Biol 61 (12): 941-945
• 2023, Soares NE, Bulla G, Fernandez-Rodriguez CE, De Salles ÁAA
  [教室環境における複数の波源による電磁界ばく露の分析] [tech./dosim.]
  2023 SBMO/IEEE MTT-S International Microwave and Optoelectronics Conference (IMOC), Castelldefels, Spain. IEEE: pp. 28-30; ISBN 9798350320688
• 2023, Huseynov AN, Malanchuk VA, Myroshnychenko MS, Markovska OV, Sukharieva LP, Kuznetsova MO
  [電気刺激の条件下でのラットの下顎における再生性骨形態の特徴] [med./bio.]
  Pol Merkur Lek 51 (6): 592-597
• 2023, Sagar A, Kashyap A, Nasab MA, Padmanaban S, Bertoluzzo M, Kumar A, Blaabjerg F
  [電気自動車の充電システム用ワイヤレス電力伝送技術の最近の進展についての包括的レビュー] [basics]
  IEEE Access 11: 83703-83751
• 2023, Cresci A, Durif CMF, Larsen T, Bjelland R, Skiftesvik AB, Browman HI
  [静磁界はタイセイヨウマダラ（Gadus morhua）とコダラ（Melanogrammus aeglefinus）の稚魚の泳ぎの活動を減少させる] [med./bio.]
  ICES J Mar Sci: fsad205 [in press]
• 2023, He SC, Zheng J
  [超電導磁気浮上式列車内の超電導磁石の漏えい磁界の解析] [tech./dosim.]
  2023 IEEE International Conference on Applied Superconductivity and Electromagnetic Devices (ASEMD), Tianjin, China. IEEE: pp. 1-2; ISBN 9798350301588
• 2023, Wei K, Luo Y, Bai Y, Chen T, Bi B
  [神経回路に基づく連続両側経頭蓋磁気刺激を用いた強迫性障害の治療に向けて] [med. app.]
  Brain Stimul 16 (6): 1585-1587
• 2023, Hueros V, Barrado A, Lázaro A, Fernández C
  [心臓ペースメーカーのワイヤレス充電システムのレビュー] [basics]
  2023 IEEE 17th International Conference on Compatibility, Power Electronics and Power Engineering (CPE-POWERENG), Tallinn, Estonia. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798350300055