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17732件の論文が見つかりました。

キーワード: Frequenz, frequency, 頻度、周波数

• 2014, De Miguel-Bilbao S, Roldan J, Garcia J, Ramos V, Fernandez J, Suarez OJ
  [Wi-Fi装置からのばく露の評価] [tech./dosim.]
  2014 IEEE International Symposium on Medical Measurements and Applications (MeMeA), Lisboa, Portugal. IEEE: p. 14470259; ISBN 978-1-4799-2920-7
• 2014, Huang CY, Chuang CY, Shu WY, Chang CW, Chen CR, Fan TC, Hsu IC
  [詳細] [異なる種類の表皮ケラチノサイトは超低周波電磁界に異なる反応を示す] [med./bio.]
  PLoS One 9 (11): e113424
• 2014, Capozzella A, Sacco C, Chighine A, Loreti B, Scala B, Casale T, Sinibaldi F, Tomei G, Giubilati R, Tomei F, Rosati MV
  [詳細] [筋萎縮性側索硬化症（ALS）の職業関連の病因：メタ分析] [epidem.]
  Ann Ig 26 (5): 456-472
• 2014, Geronikolou S, Zimeras S, Davos CH, Michalopoulos I, Tsitomeneas S
  [詳細] [携帯電話またはコードレス電話の近傍界にばく露したキイロショウジョウバエの無線周波の感受性および影響の多様性] [med./bio.]
  PLoS One 9 (11): e112139
• 2014, Alejos AV, Aguirre E, Dawood M, Falcone F
  [ブリルアン・プリカーソルの進化を考慮した比吸収の定義の見直し] [tech./dosim.]
  2014 IEEE Antennas and Propagation Society International Symposium (APSURSI), Memphis, TN, USA. IEEE: pp. 1200-1201; ISBN 978-1-4799-3540-6
• 2014, Zhao W, Cui S, Wang X
  [空芯コンパルセータの電磁シールド] [tech./dosim.]
  2014 17th International Symposium on Electromagnetic Launch Technology, La Jolla, CA, USA. IEEE: p. 14664581; ISBN 978-1-4799-2733-3
• 2014, Vaishali, Kumar V
  [移動通信システム（GSM1800 MHz）の送受信基地局から放射される非電離放射線の分析] [tech./dosim.]
  International Conference on Recent Advances and Innovations in Engineering (ICRAIE-2014), Jaipur, India. IEEE: p. 14631269; ISBN 978-1-4799-4040-0
• 2014, Veizi E, Hayek S
  [詳細] [慢性腰痛のための介入的治療] [review]
  Neuromodulation 17: 31-45
• 2014, Zang M, Hansen V, Pfeiffer U, Spathmann O, Statnikov K
  [テラヘルツ範囲のドシメトリ研究のための電磁界励起モデルの開発と適用] [tech./dosim.]
  IET 9th International Conference on Computation in Electromagnetics (CEM), 2014. IET: p. 14250670; ISBN 978-1-84919-817-2
• 2014, Tekieh T, Rafii-Tabar H
  [神経活動に対する電力線電界の影響：理論的研究] [tech./dosim.]
  2014 IEEE 34th International Scientific Conference on Electronics and Nanotechnology (ELNANO), Kyiv, Ukraine. IEEE: pp. 348-350; ISBN 978-1-4799-4581-8