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16726件の論文が見つかりました。

キーワード: Frequenz, frequency, 頻度、周波数

• 2019, Sreeraj VS, Shivakumar V, Sowmya S, Bose A, Nawani H, Narayanaswamy JC, Venkatasubramanian G
  [統合失調症における認知治療のためのオンラインシータ周波数経頭蓋交流電流刺激：症例報告および文献レビュー] [med. app.]
  J ECT 35 (2): 139-143
• 2019, Van Lysebettens W, Vonck K, Larsen LE, Sprengers M, Carrette E, Bouckaert C, Delbeke J, Jan Wadman W, Boon P, Raedt R
  [低体温症はラット海馬の電気生理学に対する急速循環VNSの大半の影響を覆い隠す] [med./bio.]
  Int J Neural Syst 29 (9): 1950008
• 2019
  [詳細] [人類および家畜に対する電流の影響‐第2部：特別な側面；IEC TS 60479-2:2019-05] [guideline]
  International Electrotechnical Commission (IEC), IEC 60479-2:2019: 1-56, ISBN 978-2-8-3226689-2
• 2019, Nasim I, Kim S
  [人体に対する5Gダウンリンクの有害なインパクト] [tech./dosim.]
  2019 SoutheastCon, Huntsville, AL, USA. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-7281-0138-5
• 2019, Nasim I, Kim S
  [戦場でのモノのインターネットのためのウェアラブルネットワークにおけるヒトの電磁界ばく露] [tech./dosim.]
  MILCOM 2019 - 2019 IEEE Military Communications Conference (MILCOM), Norfolk, VA, USA. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-7281-4281-4
• 2019, Wang Y, Zheng J, Song S, Wang Q, Chen J
  [回転不変リード軌跡を使用した高速で正確なデバイスモデル検証戦略] [dev./impl.]
  2019 Photonics & Electromagnetics Research Symposium - Fall (PIERS - Fall), Xiamen, China. IEEE: pp. 1723-1729; ISBN 978-1-7281-5305-6
• 2019, Zhang S, Liu S, Li N, Du F, Zhang X, Li Y
  [MR［磁気共鳴］画像における柔軟な分布容量コイルシミュレーションのための新たな方法] [tech./dosim.]
  2019 Photonics & Electromagnetics Research Symposium - Fall (PIERS - Fall), Xiamen, China. IEEE: pp. 2062-2066; ISBN 978-1-7281-5305-6
• 2019, Aroke O, Doherty M, Esmaeili B
  [電気的職場における人の遂行能力のベストプラクティス] [misc.]
  2019 IEEE IAS Electrical Safety Workshop (ESW), Jacksonville, FL, USA. IEEE: pp. 1-7; ISBN 978-1-7281-0645-8
• 2019, Rubtsova NB, Perov SY, Belaya OV
  [生物学的影響評価のための同等の無線周波電磁界ばく露のモデル] [tech./dosim.]
  2019 PhotonIcs & Electromagnetics Research Symposium - Spring (PIERS-Spring), Rome, Italy. IEEE: pp. 1413-1415; ISBN 978-1-7281-3404-8
• 2019, Rubtsova NB, Perov SYu, Belaya OV, Konshina TA
  [電力周波数電界遮へいの生物学的影響] [med./bio.]
  2019 PhotonIcs & Electromagnetics Research Symposium - Spring (PIERS-Spring), Rome, Italy. IEEE: pp. 1445-1448; ISBN 978-1-7281-3404-8