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キーワード: Exposition, exposure, ばく露

• 2007, Pozzi D, Grimaldi S, Ledda M, De Carlo F, Modesti A, Scarpa S, Foletti A, Lisi A
  [詳細] [神経芽細胞の形態に対する50 Hz磁界ばく露の影響] [med./bio.]
  Int J Integr Biol 1 (1): 12-17
• 2007, Gonzalez LM, Margalida A, Manosa S, Sanchez R, Oria J, Molina JI, Caldera J, Aranda A, Prada L
  [回復期にある脆弱なイベリアカタシロワシの非自然死の原因と時空間的変動] [elec. inj.]
  Oryx 41 (4): 495-502
• 2007, Zare S, Alivandi S, Ebadi AG
  [詳細] [モルモットの肝臓、精巣および腎臓に対する低周波電磁界の影響に関する組織学的研究] [med./bio.]
  World Appl Sci J 2 (5): 509-511
• 2007, Sieron A, Brus H, Konecki J, Cieslar G, Szkilnik R, Nowak P, Noras L, Kwiecinski A, Kostrzewa RM, Brus R
  [ラット組織での(3H)グルコース取り込みに対する低周波電磁界の影響] [med./bio.]
  Pol J Environ Stud 16 (2): 309-312
• 2007, Rokni-Yazdi H, Sotoudeh H, Akhondzadeh S, Sotoudeh E, Asadi H, Shakiba M
  [マウスでの磁気共鳴イメージングを利用した刺激の抗うつ様作用] [med./bio.]
  Prog Neuropsychopharmacol Biol Psychiatry 31 (2): 503-509
• 2007, Tan Q, Sun WJ, Xu ZP
  [妊娠期の超低周波電磁界ばく露による妊娠への影響に関する研究の進歩] [foreign-language]
  Zhonghua Lao Dong Wei Sheng Zhi Ye Bing Za Zhi 25 (7): 444-446
• 2007, Decat G
  [生化学的用途の核磁気共鳴分光法により発生する静磁界磁束密度に関する職業ばく露評価] [tech./dosim.]
  PIERS 2007 Beijing: Progress In Electromagnetics Research Symposium, Beijing, China. The Electromagnetics Academy, Cambridge, MA: pp. 702-705; ISBN 978-1-934142-00-4
• 2007, Johnston SA
  [詳細] [MW電磁界ばく露による行動および認知への影響] [review]
  PIERS 2007 Beijing: Progress In Electromagnetics Research Symposium, Beijing, China. The Electromagnetics Academy, Cambridge, MA: pp. 105-112; ISBN 978-1-934142-00-4
• 2007, Arnetz B, Akerstedt T, Hillert L, Lowden A, Kuster N, Wiholm C
  [詳細] [自己報告された症状および睡眠（EEG）に対する884MHz GSM無線通信信号の影響：実験的誘発研究] [med./bio.]
  PIERS 2007 Beijing: Progress In Electromagnetics Research Symposium, Beijing, China. The Electromagnetics Academy, Cambridge, MA: pp. 102-104; ISBN 978-1-934142-00-4
• 2007, Wiholm C, Lowden A, Hillert L, Kuster N, Arnetz BB, Akerstedt T, Moffat SD
  [詳細] [空間メモリタスク遂行能力に対する884MHz GSM無線通信信号の影響：実験的誘発研究] [med./bio.]
  PIERS Proceedings, Prague, Czech Republic. The Electromagnetics Academy: pp. 526-529; ISBN 978-1-934142-02-8