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キーワード: Basisstation, "Base Transceiver Station", "Sendemast für Mobilfunk", Mobilfunkbasisstation, Mobilfunkantenne, Mobilfunkmast, BTS, "mobile phone relay station", "base station", 携帯電話中継局, 基地局

• 2021, Rahimpour S, Kiyani M, Hodges SE, Turner DA
  [深部脳刺激と電磁障害] [review]
  Clin Neurol Neurosurg 203: 106577
• 2021, Guénégo L, Rivet F, Ferré G, Walzik A, Souhayl A, Karbab A
  [6 GHz未満の5G電波ばく露の測定用の低コストのIoTベースのデバイス] [tech./dosim.]
  2021 28th IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems (ICECS), Dubai, United Arab Emirates. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-7281-9493-6
• 2021, Noé N, Gaudaire F
  [5Gビームフォーミングアンテナによって生じるダウンリンク電磁波ばく露の数値モデリング] [tech./dosim.]
  CR physique 22 (S1): 15-24
• 2021, Conil E, Agnani JB
  [3.4-3.8 GHz帯域の5Gアンテナによって誘発されるばく露の定位評価] [tech./dosim.]
  CR physique 22 (S1): 3-13
• 2021, Karipidis K, Brzozek C, Bhatt CR, Loughran S, Wood A
  [環境中の動植物に対する人工的な高周波電磁界の影響についてどのような証拠があるか？ 系統的マッププロトコル] [basics]
  Environ Evid 10: 39
• 2021, Mazloum T, Wang S, Hamdi M, Mulugeta BA, Wiart J
  [4Gネットワークのマルチフロア屋内測定キャンペーンからの人工ニューラルネットワークベースのアップリンク電力予測] [tech./dosim.]
  Front Public Health 9: 777798
• 2021, Mazar Madjar H, Ball DJ
  [基地局の電磁界リスクについての科学と政治] [risk]
  2021 IEEE International Conference on Microwaves, Antennas, Communications and Electronic Systems (COMCAS), Tel Aviv, Israel. IEEE: pp. 216-218; ISBN 978-1-6654-1147-9
• 2021, Rowley J, Mazar H
  [高周波電磁界ばく露についての誤解と5Gの誤った情報] [basics]
  2021 IEEE International Conference on Microwaves, Antennas, Communications and Electronic Systems (COMCAS), Tel Aviv, Israel. IEEE: pp. 219-221; ISBN 978-1-6654-1147-9
• 2021, Derat B, Celik M, Colombi D, Xu B, Törnevik C, Schaefer D, Simon W
  [無線測定と全波電磁シミュレーションの組み合わせに基づく基地局の比吸収率の評価] [tech./dosim.]
  2021 Antenna Measurement Techniques Association Symposium (AMTA), Daytona Beach, FL, USA. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-4515-3
• 2021, Tankielun A, Saala G, Schmitz S, Bartko H, Derat B, Enayati A
  [高出力Massive MIMO無線基地局の無線測定の課題] [tech./dosim.]
  2021 Antenna Measurement Techniques Association Symposium (AMTA), Daytona Beach, FL, USA. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-4515-3