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5145件の論文が見つかりました。

キーワード: Absorption, 吸収

• 2016, López-Furelos A, Leiro-Vidal JM, Salas-Sánchez AÁ, Ares-Pena FJ, López-Martín ME
  [SDラットの大脳および小脳での2周波組み合わせ信号による細胞ストレスおよびカスパーゼ3の証拠] [med./bio.]
  Oncotarget 7 (40): 64674-
• 2016, Safari M, Abdolali A
  [歯科インプラントと携帯電話使用：アンテナ変数、比吸収率、電流密度にインプラントの存在と位置は如何に影響するか] [tech./dosim.]
  IEEE Antennas Propag Mag 58 (5): 43-51
• 2016, Yu W, Zhao L, Ye Q, Chen G, Wu KL
  [新しい高解像度電磁的人体頭部モデル：新しい比吸収率評価モデル用の有用な研究資源] [tech./dosim.]
  IEEE Antennas Propag Mag 58 (5): 32-42
• 2016, Alabovsky VV, Kudryshov YB, Vinokurov AA, Bogacheva EV, Maslov OV, Perov SY
  [ラットの単離心臓におけるNa+/ Ca2 +交換機構の状態に対する無線周波電磁界の影響（ロシア語）] [foreign-language]
  Radiats Biol Radioecol 56 (2): 171-176
• 2016, Busygina AV, Bebyakina EV, Komnatnov ME
  [容器内の生体対象物による電磁エネルギー吸収のシミュレーション] [tech./dosim.]
  2016 17th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices (EDM), Erlagol, Russia. IEEE: pp. 646-649; ISBN 978-1-5090-0787-5
• 2016, Mihai G, Aron AM, Haralambie V, Paljanos A
  [2Gおよび3G通信規格下で実験的に構成を変えた携帯電話のSARレベル変化の研究] [tech./dosim.]
  2016 International Conference on Communications (COMM), Bucharest, Romania. IEEE: pp. 491-494; ISBN 978-1-4673-8198-7
• 2016, Russo AA, Valeri S, Baccani G, Delia F, Delia R
  [MRI用ファントム開発を通じて明確化された身体容積におけるSARの測定および分布] [tech./dosim.]
  2016 IEEE International Symposium on Medical Measurements and Applications (MeMeA), Benevento, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-4673-9173-3
• 2016, Buckus R, Strukcinskiene B, Raistenskis J, Stukas R
  [携帯電話により人体頭部に生成される電界強度のモデリングおよび評価] [tech./dosim.]
  Vojnosanit Pregl 73 (6): 538-543
• 2016, Kundu A, Gupta B, Mallick AI
  [インドのシナリオにおける無線周波放射にばく露したブドウの典型的な房におけるSAR解析] [tech./dosim.]
  2016 International Conference on Microelectronics, Computing and Communications (MicroCom), Durgapur, India. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-1-4673-6621-2
• 2016, Kundu A, Gupta B, Mallick AI, Pal SK
  [トウガラシの種子発芽とその後の苗木成長に対する非電離電磁放射の影響：時間研究] [med./bio.]
  2016 International Conference on Microelectronics, Computing and Communications (MicroCom), Durgapur, India. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-4673-6621-2