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4838件の論文が見つかりました。

キーワード: Absorption, 吸収

• 2016, Busygina AV, Bebyakina EV, Komnatnov ME
  [容器内の生体対象物による電磁エネルギー吸収のシミュレーション] [tech./dosim.]
  2016 17th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices (EDM), Erlagol. IEEE: pp. 646-649; ISBN 978-1-5090-0787-5
• 2016, Mihai G, Aron AM, Haralambie V, Paljanos A
  [2Gおよび3G通信規格下で実験的に構成を変えた携帯電話のSARレベル変化の研究] [tech./dosim.]
  2016 International Conference on Communications (COMM), Bucharest. IEEE: pp. 491-494; ISBN 978-1-4673-8198-7
• 2016, Russo AA, Valeri S, Baccani G, Delia F, Delia R
  [MRI用ファントム開発を通じて明確化された身体容積におけるSARの測定および分布] [tech./dosim.]
  2016 IEEE International Symposium on Medical Measurements and Applications (MeMeA), Benevento, Italy. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-4673-9173-3
• 2016, Buckus R, Strukcinskiene B, Raistenskis J, Stukas R
  [携帯電話により人体頭部に生成される電界強度のモデリングおよび評価] [tech./dosim.]
  Vojnosanit Pregl 73 (6): 538-543
• 2016, Kundu A, Gupta B, Mallick AI
  [インドのシナリオにおける無線周波放射にばく露したブドウの典型的な房におけるSAR解析] [tech./dosim.]
  2016 International Conference on Microelectronics, Computing and Communications (MicroCom), Durgapur. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-1-4673-6621-2
• 2016, Kundu A, Gupta B, Mallick AI, Pal SK
  [トウガラシの種子発芽とその後の苗木成長に対する非電離電磁放射の影響：時間研究] [med./bio.]
  2016 International Conference on Microelectronics, Computing and Communications (MicroCom), Durgapur. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-4673-6621-2
• 2016, Lu M, Wu XY
  [携帯電話使用においてヒト内分泌腺に誘導される比吸収率（SAR）の研究] [tech./dosim.]
  2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC), Shenzhen, China. IEEE: pp. 1084-1086; ISBN 978-1-4673-9494-9
• 2016, Alon L, Sodickson DK, Deniz CM
  [磁気共鳴熱画像から平均SARを計算するための熱方程式の反転フレームワーク] [tech./dosim.]
  Bioelectromagnetics 37 (7): 493-503
• 2016, Pang X, Chen S, Wang X, Zhong L
  [生体でのタンパク質分子を介した生体エネルギー輸送に対する電磁エネルギーの影響とその実験的証拠] [tech./dosim.]
  Int J Mol Sci 17 (8): 1130-
• 2016, Psenakova Z, Smondrk M, Barabas J, Lo Sciuto G
  [PIFAアンテナによるペースメーカのRFばく露（2.4 GHz）に関するシミュレーションおよび評価] [dev./impl.]
  2016 ELEKTRO, Strbske Pleso, Slovakia. IEEE: pp. 569-573; ISBN 978-1-4673-8699-9