文献検索結果

68件の論文が見つかりました。

キーワード: 頸動脈, "Arteria carotis communis", Halsschlagader, Carotis, Karotis, "carotid artery", carotid

• 2025, Wang D, Zhang X, Huang Z, Li Y, Wang X, Wang J, Zhao Y, Lv Q, Wu M, Zha M, Yuan K, Zhu W, Xu G, Xie Y
  Theta-burst transcranial magnetic stimulation attenuates chronic ischemic demyelination and vascular cognitive impairment in mice [med. app.]
  Exp Neurol 383: 115022
• 2024, Zhang Y, Ye Z, Zhang Y, Yang S, Liu M, Wu Q, Zhou C, He P, Gan X, Qin X
  [定常的な携帯電話使用と心血管疾患の発症：睡眠パターン、心理的ストレス、および神経症傾向の媒介効果] [epidem.]
  Can J Cardiol [in press]
• 2024, Kim JH, Jeong M, Kim H, Kim JH, Ahn JW, Son B, Choi KH, Chung S, Yoon J
  [脳卒中後の運動機能回復のための焦点化磁気刺激] [med./bio.]
  Brain Stimul 17 (5): 1048-1059
• 2024, Zou H, Bao S, Chen X, Zhou X, Zhang S
  [高頻度反復経頭蓋磁気刺激は、慢性脳低灌流マウスにおいて神経炎症を抑制することで記憶障害を改善する] [med. app.]
  Brain Behav 14 (7): e3618
• 2024, Feng Y, Huang Z, Ma X, Zong X, Xu P, Lin HW, Zhang Q
  Intermittent theta-burst stimulation alleviates hypoxia-ischemia-caused myelin damage and neurologic disability [med. app.]
  Exp Neurol 378: 114821
• 2024, Yazdanbakhsh P, Couch M, Gilbert KM, Der Hovagimian J, Rudko DA, Hoge RD
  An 8-Channel Transceiver Coil for Carotid Artery Imaging at 7T Using an Optimized Shield Design [tech./dosim.]
  IEEE Trans Biomed Eng 71 (8): 2537-2544
• 2023, Bayat M, Karimi N, Karami M, Borhani Haghighi A, Bayat K, Akbari S, Haghani M
  [2.45 GHzマイクロ波放射への慢性ばく露は血管性認知症モデルにおける認知およびシナプス可塑性障害を改善する] [med./bio.]
  Int J Neurosci 133 (2): 111-122
• 2022, Gmitrov J
  [頸動脈圧受容器の磁気活性化と心拍ごとの血圧変動、不安定な高血圧症における急激な血圧上昇の治療への影響] [med./bio.]
  Bioelectromagnetics 43 (7): 413-425
• 2022, Mohammed N, Cluff K, Sutton M, Villafana-Ibarra B, Loflin BE, Griffith JL, Becker R, Bhandari S, Alruwaili F, Desai J
  [マルチサイト動脈血流検出用のフレキシブルな近傍界バイオセンサー] [tech./dosim.]
  Sensors 22 (21): 8389
• 2022, Soundar Rajan G, Sakthi Abirami B, Dennis Joshua D, Devi Sowjanya P
  [脳卒中検出用のコンフォーマルマイクロ波センサーの設計] [tech./dosim.]
  2022 International Conference on Intelligent Controller and Computing for Smart Power (ICICCSP), Hyderabad, India. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-1-6654-7259-3