文献検索結果

19766件の論文が見つかりました。

キーワード: 電磁界, "Elektromagnetisches Feld", EMF, "electromagnetic field"

• 2022, Shen QR, Hu MT, Feng W, Li KP, Wang W
  [脳卒中リハビリテーションにおける非侵襲的脳刺激のナラティブレビュー] [review]
  Med Sci Monit 28: e938298
• 2022, Weisinger B, Pandey DP, Saver JL, Hochberg A, Bitton A, Doniger GM, Lifshitz A, Vardi O, Shohami E, Segal Y, Reznik Balter S, Djemal Kay Y, Alter A, Prasad A, Bornstein NM
  [周波数調整した電磁界療法は脳卒中後の運動機能を改善する：パイロット無作為化対照試験] [med. app.]
  Front Neurol 13: 1004677
• 2022, Djuric N, Kljajic D, Otasevic V, Djuric S, Yin L
  [セルビアのEMF RATELシステムによる高感度ゾーンでの電磁界ばく露観測] [tech./dosim.]
  2022 4th International Conference on Emerging Trends in Electrical, Electronic and Communications Engineering (ELECOM), Mauritius. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-6698-1
• 2022, Wan Q, Yan Z, Li F, Chen S, Liu J
  [電磁誘導および電磁放射下のホップフィールドニューラルネットワークにおける複雑な動態] [tech./dosim.]
  Chaos 32 (7): 073107
• 2022, Johal N, Batish D, Pal A, Chandel S, Pal M
  [ヒヨコマメ（Cicerarietinum L.）の実生の成長、発芽、および抗酸化防御系に対する2850 MHz電磁放射の影響の調査] [med./bio.]
  Russ J Plant Physiol 69 (6): 136
• 2022, Levitt BB, Lai HC, Manville AM II
  [野生生物および植物に対する低レベル電磁界の影響：生態系アプローチについて研究が我々に述べていること] [review]
  Front Public Health 10: 1000840
• 2022, Thöni V, Mauracher D, Ramalingam A, Fiechtner B, Sandbichler AM, Egg M
  [治療用核磁気共鳴の量子ベースの効果は解糖を持続的に減少させる] [med./bio.]
  iScience 25 (12): 105536
• 2022, Yang R, Huang J, Liao M, Huang J, Gao B, Zhang H, Zhou J, Xu J, Lu Q
  [低酸素性腫瘍に対する強化された画像誘導マイクロ波動的療法のための酸素が十分なナノプラットフォーム] [med./bio.]
  Int J Nanomedicine 17: 5525-5545
• 2022, Baaken D, Erdmann F, Olsson A, Onyije FM, Schüz J, Wollschläger D
  [小児B細胞ALL患者における環境要因、遺伝的要因と白血病との関連を調査するための学際的研究の実施可能性研究‐プロジェクト3620S92412] [info]
  Federal Office for Radiation Protection (BfS), Ressortforschungsberichte zum Strahlenschutz, BfS-RESFOR-206/22: 1-73
• 2022, Malandrino F, Chiaramello E, Parazzini M, Chiasserini CF
  [ヒト中心のセルフリーネットワークにおける性能と電磁界ばく露のトレードオフ] [tech./dosim.]
  2022 20th International Symposium on Modeling and Optimization in Mobile, Ad hoc, and Wireless Networks (WiOpt), Torino, Italy. IEEE: pp. 377-382; ISBN 978-1-6654-6076-7