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キーワード: 電波による, Funk, radio

• 2013
  [環境保健専門技術者用の無線周波電磁界のツールキット] [info]
  BC Centre for Disease Control (BCCDC), National Collaborating Centre for Environmental Health (NCCEH), 1-371, ISBN 978-1-926933-48-1
• 2013, Kundu A
  [GSM携帯電話タワーからのRF放射線にばく露したリンゴにおける比吸収率の評価] [tech./dosim.]
  2013 IEEE Applied Electromagnetics Conference (AEMC), Bhubaneswar, India. IEEE: pp. 1-2; ISBN 978-1-4799-3266-5
• 2013, Leitgeb N
  [RF-EMFの制限への熱モデルの影響] [tech./dosim.]
  J Electromagn Anal 5 (4): 137-144
• 2013, Rodriguez MEC, Pinheiro FSR, Braga AACC, Sousa TP, Goncalo JPS, Sanchis MAB, Camara ALS
  [都市環境での非電離放射線の測定と多様なサービスの相対的寄与の予備的評価] [tech./dosim.]
  2013 SBMO/IEEE MTT-S International Microwave & Optoelectronics Conference (IMOC), Rio de Janeiro, Brazil. IEEE: p. 13877942; ISBN 978-1-4799-1397-8
• 2013, Nagaoka T, Niwa T, Watanabe S
  [RF遠方界ばく露におけるヒト胎児の成長につれての比吸収率] [tech./dosim.]
  2013 Asia-Pacific Microwave Conference Proceedings (APMC), Seoul. IEEE: p. 14001352; ISBN 978-1-4799-1474-6
• 2013, Smitha CK, Narayanan NK
  [詳細] [EEGに対する携帯電話放射の影響] [med./bio.]
  2013 Third International Conference on Advances in Computing and Communications, Cochin. IEEE: pp. 111-114; ISBN 978-0-7695-5033-6
• 2013, Linhares A, Martins Soares AJ, Brasil Terada MA
  [EMFへの人体ばく露の評価における無線基地局アンテナからのサイドローブ] [tech./dosim.]
  2013 SBMO/IEEE MTT-S International Microwave & Optoelectronics Conference (IMOC), Rio de Janeiro, Brazil. IEEE: p. 13878101; ISBN 978-1-4799-1397-8
• 2013
  [詳細] [無線通信装置による人体頭部内の空間平均比吸収率（SAR）のピーク値の決定のためにIEEEが推奨する実際的方法] [guideline]
  Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), IEEE Std 1528-2013: 1-246, ISBN 978-0-7381-8526-2
• 2013, Thors B, Nord L, Colombi D, Tornevik C
  [無線周波電磁界の全身ばく露限度値に関する低出力無線基地局用製品のコンプライアンス評価] [tech./dosim.]
  2013 7th European Conference on Antennas and Propagation (EuCAP), Gothenburg, Gothenburg, Sweden. IEEE: pp. 1762-1766; ISBN 978-1-4673-2187-7
• 2013, Higashiyama J, Tarusawa Y
  [MIMOアンテナシステムの人体ばく露評価ための費用対効果の高い手法] [tech./dosim.]
  International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Brugge, 2013, Brugge, Belgium. IEEE: pp. 93-98; ISBN 978-1-4673-4980-2