文献検索結果

20047件の論文が見つかりました。

キーワード: 電気, Elektrizität, electricity

• 2019, Chafai DE, Cifra M
  [強いナノ秒パルス化電界によるマイクロ／ナノ構造の機能の変調] [med./bio.]
  2019 International Conference on Advanced Electrical Engineering (ICAEE), Algiers, Algeria. IEEE: pp. 1-3; ISBN 978-1-7281-2221-2
• 2019, Mescia L, Chiapperino MA, Bia P, Lamacchia CM, Gielis J, Caratelli D
  [パルス化電界による電気穿孔の精密な分析のための細胞膜モデリングの重要性] [tech./dosim.]
  2019 PhotonIcs & Electromagnetics Research Symposium - Spring (PIERS-Spring), Rome, Italy. IEEE: pp. 2985-2991; ISBN 978-1-7281-3404-8
• 2019, Hu C, Fan X, He L, Li X, Tong L
  [均質化法によるMCRの電磁熱的有限要素モデリング] [tech./dosim.]
  2019 IEEE 3rd International Electrical and Energy Conference (CIEEC), Beijing, China. IEEE: pp. 1727-1731; ISBN 978-1-7281-1676-1
• 2019, Wang Y, Wen Y
  [リニア同期モーターによる磁気浮上式列車の電磁放射] [tech./dosim.]
  2019 IEEE 3rd International Electrical and Energy Conference (CIEEC), Beijing, China. IEEE: pp. 1507-1512; ISBN 978-1-7281-1676-1
• 2019, El Amrani L, Mazri T, Hmina N
  [ヒト比吸収率の研究のための伝播モデルアプローチ] [tech./dosim.]
  2019 11th International Conference on Electronics, Computers and Artificial Intelligence (ECAI), Pitesti, Romania. IEEE: pp. 1-7; ISBN 978-1-7281-1625-9
• 2019, Otsuru N, Kamijo K, Otsuki T, Kojima S, Miyaguchi S, Saito K, Inukai Y, Onishi H
  [後頭頂皮質上の10 Hz経頭蓋交流刺激は触覚の時間的順序の判断を容易にする] [med. app.]
  Behav Brain Res 368: 111899
• 2019, Wang Y, Van de Moortele PF, He B
  [7テスラMRIを使用したヒトの脳における自動勾配ベースの電気特性断層撮影] [tech./dosim.]
  Magn Reson Imaging 63: 258-266
• 2019, Kono S, Tominaga N
  [2つの異なる矩形パルスの組み合わせによるHL-60細胞へのGFP導入の最適化] [med./bio.]
  2019 IEEE Pulsed Power & Plasma Science (PPPS), Orlando, FL, USA. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-5386-7970-8
• 2019, Ahmad S, Hasan RR, Hasan R, Al Rakib MA, Hasan MA, Zubayar M
  [ペースメーカーシステムのワイヤレスモニタリングを目的とした低SAR体内アンテナ] [tech./dosim.]
  2019 4th International Conference on Electrical Information and Communication Technology (EICT), Khulna, Bangladesh. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-7281-6041-2
• 2019, Park SD
  [電気事故の痛みを伴う記憶] [basics]
  2019 IEEE IAS Electrical Safety Workshop (ESW), Jacksonville, FL, USA. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-7281-0645-8