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23115件の論文が見つかりました。

キーワード: 磁界, Magnetfeld, MF, "magnetic field"

• 2022, Ronniger M, Aguida B, Stacke C, Chen Y, Ehnert S, Erdmann N, Eschenburg G, Falldorf K, Pooam M, Wing A, Ahmad M
  [ヒト細胞培養における低周波パルス化磁界のばく露パラメータの精度と再現性の達成のための新奇の手法] [med./bio.]
  Bioengineering 9 (10): 595
• 2022, Menardi A, Ozdemir RA, Momi D, Tadayon E, Boucher P, Vallesi A, Pascual-Leone A, Shafi MM, Santarnecchi E
  [ネットワーク標的化経頭蓋磁気刺激の信頼性に対するグループベースvs.個別化した刺激部位選択の影響] [med. app.]
  NeuroImage 264: 119714
• 2022, Young IM, Osipowicz K, Mackenzie A, Clarke O, Taylor H, Nicholas P, Ryan M, Holle J, Tanglay O, Doyen S, Sughrue ME
  [画像ガイド式と頭蓋計測式の経頭蓋磁気刺激コイル配置の一貫性の比較] [tech./dosim.]
  Brain Stimul 15 (6): 1465-1466
• 2022, Su B, Jia Y, Zhang L, Li D, Shen Q, Wang C, Chen Y, Gao F, Wei J, Huang G, Liu H, Wang L
  [健康な成人における前脛骨筋に対する刺激回数が異なる通常のハンドヘルド法を用いた経頭蓋磁気刺激の測定の信頼性] [med. app.]
  Front Neural Circuits 16: 986669
• 2022, Maurya R, Singh N, Jindal T, Pathak VK, Dutta MK
  [脳に対する高周波電磁界放射の影響の分析のためのコンピュータ支援自動転移学習に基づくアプローチ] [tech./dosim.]
  Multimed Tools Appl 81 (10): 13713-13729
• 2022, Ramachandran T, Faruque MRI, Islam MT
  [電磁吸収低減アプリケーションのための誘電体パッシブ左利き対称メタマテリアル設計] [tech./dosim.]
  Proc Inst Mech Eng Pt L J Mater Design Appl 236 (11): 2157-2170
• 2022, Long T, Jiang C, Sang W, Gu Y, Ding J, Li L
  [マップマッチングによるMRスキャナー内のバードケージコイルのデジタルツインの構築：体内植込み型医療機器の高周波加熱評価のため] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Instrum Meas 71: 1-9
• 2022, Judáková Z, Janoušek L, Čarnecká L, Švantnerová I
  [評価ツールとしての電気伝導度測定] [tech./dosim.]
  2022 23rd International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Zuberec, Slovakia. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350396263
• 2022, Bacova F, Benova M
  [遮へい領域内での電磁界への子どもおよび成人の胸部に対するばく露モデリング] [tech./dosim.]
  2022 23rd International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Zuberec, Slovakia. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350396263
• 2022, Bajtos M, Radil R, Janoušek L, Hargasova K, Student S, Kocikowska O
  [生物学的実験のためのイオンパラメトリック共鳴条件の数値的調整] [tech./dosim.]
  2022 23rd International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Zuberec, Slovakia. IEEE: pp. 1-4; ISBN 9798350396263